[参考译文] TUSB217-Q1：借助 TUSB217改善4m USB 2.0高速电缆的信号质量裕度

您好、Edthan、

您能否重试发布您的某些图片未正确上传。 此外、如果您有设置的方框图、它将帮助我了解您正在执行的测试和您的应用。 通常、我们建议将 TUSB217放置在最靠近连接器的位置、或者放置在距离 USB 主机或集线器~4-5 m 的位置(取决于电缆的质量)。 放置 TUSB217时、使每侧长度被拆分一半也是可行的。  

您好、Malik、

感谢你的答复。 这是第一张图片、显示了我们的系统设置。  

这是第二幅图像、显示了使用8m 电缆时系统中各个点的远端眼图。 最终眼图显示的电缆比正常电缆差。  

您好、Edthan、

您似乎需要为应用配备两个 TUSB217、因为通过电路板 B 和 C 会产生大量损耗。您使用的 USB 集线器是否能够增加 USB 2 PHY 的驱动强度？ 这在这里也可能有所帮助。

另一条电缆似乎存在一个问题、即 DP 和 DM 之间存在较大的直流不平衡、导致眼图向下移动、此外还有大量损耗。 在本例中、您是否具有 SE DP 和 DM 波形？

您好、Malik、

感谢您的回答。  在这种情况下、您建议将2x TUSB217放置在何处？ 我同意电路板 B 和 C 的损耗很大、我认为这主要是由于连接器不是真正的90欧姆差分连接器。 我们正在使用 Microchip 的 USB2517和 USB2512b 集线器、并且已将每个端口的驱动强度提高到+12%。

我在最后一个眼图中没有单端波形。 我看到您的意思是整个眼图向下移动。 它在差分峰峰值测量中也有很多衰减。 我们认为、我们在电缆中看到的一些变化可能是由于在双绞线上只使用了编织屏蔽层而不是箔+编织层。 您可以确认这是否会影响信号质量/衰减？ 我们的理论是、编织屏蔽覆盖范围可能因电缆而异、信号质量也会相应受到影响。  

如果我们将 TUSB217放置在电路板 B 和电路板 C 上、您是否认为眼图会在电缆中间的电路板 E 上显著打开？

谢谢、

Ethan

您好、Edthan、

我认为、尽可能靠近电路板 B 和电路板 C 放置肯定有助于提高信号完整性、并有可能使人眼张开。 我建议您查看 TUSB216和相关的 EVM。 TUSB216是我们最新的 USB 2转接驱动器、比 TUSB216具有更多的转接驱动功能。 我还会确保集线器自检也通过近端眼罩测试(直接在连接器处测量)。

电缆的屏蔽肯定会影响电缆的信号完整性。 例如、非屏蔽电缆将执行一次、而不是屏蔽电缆。 我无法具体评论您使用的屏蔽类型、但它似乎有影响。 电缆的测量仪表也已显示为影响电缆的频率响应。