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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/889565/sn65hvd233-ht-failing-at-185-and-190c
遇到类似问题、即使陶瓷器件的额定温度为210C。 是否找到了解决方案？
谢谢、
斯蒂芬
尊敬的 Stephen：
我正在收集上一个主题的信息、以查看我们是否找到了解决方案。 今天稍后、我将根据我发现的内容向您提供更新。
此致、 Eric
我能够跟踪有关前一个 E2E 主题的一些内部通信、但我无法找到问题是否已解决。 幸运的是、我可以访问的信息更详细地阐述了所做的测试。 您是否能够提供有关测试的更多信息、以便我们可以查看这是否类似？
1.在测试过程中，故障发生在什么时间和温度？ 2.设备以什么方式发生故障？ -如果出现通信故障、您是否能够共享由故障器件驱动的 CAN 总线的示波器截图？ 3.有多少设备未通过测试？ -故障结果是否可重复，如果是，速度是多少？ 4.系统中的其他设备是否也会出现故障？ -其他 IC、走线、无源组件等 其中任何一种情况都可能导致瞬态或浪涌事件？ 在测试过程中、还有哪些其他器件连接到 SN65HVD233？ -测试期间是否存在通信？ 您能否共享原理图？ 6.是否可以共享故障设备顶部的标记？
您是否能够为高温下的 SN65HVD233-HT 故障找到解决方案？
