[参考译文] DP83849I：PHY 输出引脚 ESD 保护

尊敬的 Vitaliy：

ESD 结构为 TI 专有产品。 请务必与我们分享 ESD 问题、我们可以澄清片上 ESD 是否符合要求。

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此致、

Vikram  

您好、Vikram、

感谢你的答复。 在我们的应用中、我们需要承受进入以太网变压器输出的雷击瞬变。  标准测试是将照明脉冲直接注入其中一个引脚(Tx 和 TX+ 或 RX 或 RX+ 未连接在一起)。  尽管存在电隔离、但仍然存在快速 dV/dt 脉冲将耦合到初级侧并到达 PHY 的问题、即使衰减程度较高。  

在考虑在初级侧提供保护(请参阅随附的)并对 变压器中的寄生效应进行更详细的分析之前、 我想了解 PHY 本身针对 ESD 等 OV 瞬变提供了何种保护。  我们早期的外部保护测试、高速、低电容 TVS 阵列会使波形失真、不符合 IEEE 规范。  我们正在寻找其他选项。

尊敬的 Vitaliy：

您随时可以获得 EthA_TX+/TX-/RX +/RX-引脚上预期波形的快照。 我要寻找的是这些引脚上的预期脉冲幅度以及该脉冲的持续时间。

我们没有直接的数据来说明我们可以在这些引脚上支持多大的电压瞬变以及多长时间。 但是、我可以尝试将其与 ESD 类似的事件映射、看看器件的瞬变是否仍然安全？  

此外、对于闪电事件期间的数据传输还有什么期望？ 链路中断和自动恢复是否正常？ 您能不能更详细地介绍一下该应用、以便在需要时为您找到合适的解决方案？

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此致、

Vikram

我可以大致描述：

PHI 引脚(TX+、Tx-和 RX+、RX-如之前的答复中列出的那样) 上的差分瞬态电压进入100 Ω 负载(移除 PHY)、可在  大约 200纳秒内达到~234V。

峰值电流 ~3-4安培、持续200ns。   

共模电压从 PHI 的引脚(TX+、Tx-和 RX+、RX-如之前的答复中列出的那样)到公共接地： 140V、2.5A 峰值持续~150ns

对于能量计算、可以假设波形为方波脉冲。

上面的数字是从实际照明事件电平推断出来的、存在一些不确定性。

只要恢复发生、照明事件期间就允许数据丢失。

感谢您对此进行深入研究。  有关钳位的任何信息都很有用。

尊敬的 Vitaliy：

我试图看到它与 ESD 事件有多接近、我们的 ESD 结构可以在不损坏物理层的情况下加以注意。 但上述电压/电流峰值和持续时间要高得多。

这里是我们测试过的类似 ESD 的事件、我发现您的测试中的电流持续时间要高得多。

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此致、

Vikram