[参考译文] DP83867IR：10BASE-Te / 100Base-TX / 1000Base-T 合规性测试

您好、Koshi-San、

请分享以下内容：

突出显示 phy 和以太网连接器之间的连接和组件的原理图。

2.使用的连接器/磁性型号。

3、到目前为止是否有针对10BT 和1000BT 合规性尝试过任何寄存器配置、结果是否有所改善？

--

此致、

Vikram

您好，Vikram

我叫 Ryo，是 Koshi-San 的客户。

我将代表他作出答复。

>1. 突出显示 phy 和以太网连接器之间的连接和组件的原理图。

/cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/138/Schamatic_5F00_Layout.pdf

>2. 使用的连接器/磁性型号。

 型号:  LPJK4071BWNL

/cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/138/_5B00_LINKPP_5D00_LPJK4071BWNL.pdf

>3. 到目前为止、是否有任何针对10BT 和1000BT 合规性测试的寄存器配置会导致改进？

否、但在10BT 测试下、

由于链接伙伴无法输出伪随机、
PHY BIST (0x16)功能的伪随机信号用作测试信号。

寄存器设置
0x1f 0x8000、PHY 复位
0x00 0x0100、10Base-T/Te 模式
0x10 0x5008、强制 MDI 模式
0x16 0xd804、

///--------

此致、

Ryo ***

你好 Ryo ***、

感谢您提供所有数据。 我已经查看了原理图和布局快照、没有发现异常情况。 查看验证数据、我看到寄存器 =0x0683提供更好的裕度。 我正在检查设计的可能原因、但您是否认为您可以在电路板上尝试此额外的寄存器设置、然后再次运行故障测试？

--

此致、

Vikram  

您好 Vikram，

感谢你的答复。

我无法确认 DP83867IR 数据表中寄存器<0x00A6>的内容。

您能告诉我内容吗？

以下哪些测试失败项受此寄存器设置的影响？

<10Base-Te>
1) TP_IDL 模板，带 TPM (最后一位 CD0)：在 load2时失败
2) TP_IDL 模板，带 TPM (最后一位 CD1)：在 load2时失败
3) TP_IDL 模板，不带 TPM (最后一位 CD1)：在 load1时失败
4) 4)发送器回波损耗

1000BASE-T
1)差分 A、B 峰值输出电压(具有干扰信号)

由于测试是在外部测试场地进行的、因此目前没有测量仪器。 因此、我无法立即运行测试。

此致、

Ryo ***

你好 Ryo ***、

如果您必须转到外部工作室进行调试、那么让我们列出更多可能的调试步骤。 我将在本周星期三之前向您提供寄存器详细信息和可能的调试步骤。

--

此致、

Vikram

您好 Ryo、

您能否共享净 CLK25MHz_NET1的电压摆幅电平及其来源？ 它是否来自另一个869 phy？  

P1、P2、P3和 P4的原理图是否有差异？ 时钟或电源网络？

另请确认在 DUT 和测量板之间使用了一根短(<2英寸) CAT5e 电缆。

--

此致、

Vikram

您好 Vikram、

>是否可以共享网络 CLK25MHz_NET1的电压摆幅电平及其来源？ 它是否来自另一个869 phy？  

  净 CLK25MHz_NET1的摆幅电平：VH=1.77V，VL=0.05V

 它的源：VH=3.3V，VL=0V

 时钟振荡器的输出由 CDCLVC1103分配并提供给每个 PHY。

> P1、P2、P3和 P4的原理图是否有差异？ 时钟或电源网络？

时钟网络如上所述。

电源网络被 TEST、P1、P2和 P3、P4分频。

请参阅附件7及以上  

/cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/138/Schamatic_5F00_Layout2.pdf

>另请确认使用了从 DUT 到测量板的一根短(< 2英寸) CAT5e 电缆。

部件号：Keysight N5395-61601

  长度：7英寸(17.5厘米)

  键入 Cat5e

此致、

Ryo ***

你好 Ryo ***、

我在接收和编译我们要尝试的调试步骤方面迟到了。 我不会像前面所讨论的那样在星期三、只能在星期五向您发送步骤。

很抱歉耽误你的时间。

--

此致、

Vikram

你好 Ryo ***、

我还与设计团队举行了进一步的评审会议，结果表明我们需要更多的投入 ：

1.对于1000BTx 测试、是否使用 SMA 电缆将负载板连接到示波器？ 还是差分探头？ 您之前发送的文档有一个标题为"测量系统(1000BT)"的页面、其中显示了 SMA 电缆、但文档中提到的 Keysight 部件实际上具有用于执行%A-B 差分测试的差分探头点。 请确认。

2.对于10BTe、示波器中通常有一个不同于10BT 测量的设置。 使用的 Keysight 示波器是否如此？  我们在结果部分中看到10BT 和10BTe 都有测量结果、因此只需确认在测量10BTe 结果时进行了所有必要的更改即可。

3.是否可以使用较短的电缆(2英寸)连接 DUT 和负载板？

4.您的终端是否有任何合规性测试设施？ 它可能与外部实验不同、但它将帮助我们更快地执行一些迭代。

在与团队一起审阅后、发现我们可以尝试一些软件设置来查看1000BTx 的结果改进。 但是、对于10BTe 结果、我们无法确定这些结果在您的系统中的可能原因、我们尚未看到10BTe 的这种结果。

我们的结局很慢，很抱歉，我们将在5月27日之前再花一些时间。 我们期待您提供这些输入、并努力编译测试所需的配置。  

--

此致、

Vikram

您好 Vikram，

1。

使用差分探头测量。

连接到 N5395C 第2部分中的探测点。

2.

在10BTe 设置下测量。
注意：10BT 是2020年3月测得的结果。 基于这些结果、我们发现 DP83867IR 与10BT 不兼容、2020年4月、我们使用10BTe 设置进行了重新测试。

3.

没有使用短电缆(< 2英寸)的选项。
连接器部件中有1英寸。 两端连接器端到端的长度是否为2英寸？ 顺便说一下、Tektronix TF-GGBE-SIC 为4英寸、包括连接器部分。

4.

我没有用于合规性测试的必要测量设备。

//----

此致、

Ryo ***

您好 Vikram，

>1. 对于1000BTx 测试、SMA 电缆是否用于将负载板连接到示波器？  

昨天的答复中有一个错误。
我使用的是 SMA 电缆。
请参阅随附的文件

/cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/138/Probing-Setup-for-Test-Mode1.pdf

//----

此致、

Ryo ***

你好 Ryo ***、

我从图片中了解到、测量中的 SMA 连接点用于回波损耗和其他测试、而不用于%A-B 测试。 我看到图像右下角有差分探针点。 您能否再次检查这些测试是否用于%A-B 测试而不是 SMA (对于1000BTx、这种测试失败)？

我们在最后尝试重新创建失败、但我们看不到任何失败的原因、因此我们目前无法共享任何调试设置。 我们今天和明天都在做一些测试、并会随时为您发布。

--

此致、

Vikram

您好、Vikram

所述的探头点是否与测试装置第2节中的探头点有关？

此致、

Ryo ***

/cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/138/Probing-Setup-for-Test-Mode1.pdf

是第2节。  

--

此致、

Vikram

您好、Vikram

测量使用 N5395C 固定装置的第1节和第11节、与示波器的连接使用2根 SMA 电缆。

此致、

Ryo ***

您好 Ryo、

我们尝试了不同的电路板、但无法重新创建问题。 以下是 TI 实验室中 Tektronix 测试设置之间的差异(与 IEEE 合规性机构：UNH 相同)：

差分探头(Tektronix：P6247、1.7GHz)

2.短以太网电缆：< 2"  

您的合规性测试中心是否可以选择使用类似或 Tektronix 硬件。 因为 SMA 电缆是宽带宽电缆、所以可能是由于测试过程中产生了一些不必要的噪声。

--

此致、

Vikram  

您好 Vikram、

尝试在另一个符合性测试中心使用 Tektronix Instruments 重新测试1000BTx。

从下面的报价中、是否需要其他软件配置？

报价：
① Vikram-San 的答复，5/14
查看验证数据、我看到寄存器 =0x0683提供更好的裕度。
② Vikram-San 答复，5/22.
在与团队一起审阅后、发现我们可以尝试一些软件设置来查看1000BTx 的结果改进。

最后、
对于10BTe 结果、您是否考虑了结果和调试设置的可能原因？

此致、

Ryo ***

您好、Ryo 先生、

我刚刚向您发送了一个朋友请求。 由于此问题已存在很长时间、因此您认为我们应该通过电话更快地交换信息。 这将有助于我们更快地解决这一问题。

我已向您发送来自 E2E 的请求、它将包含我的电子邮件 ID。 请给我写一封邮件、告诉我您的便利时间、我们可以给您一个简短的电话来决定后续步骤。

--

此致、

Vikram

您好，Vikram

我刚刚向您发送了来自 E2E 论坛的请求回复。  

由于这是第一个操作、我担心我可以发送它。

您是否收到消息？

此致、

Ryo ***

您好 Vikram-san、

>>1. 对于1000BTx：
我无法尝试、因为没有测量仪器。

>>2. 对于10BTe：
我没有测试装置、但我可以尝试。

振幅增加0.2V。
这是您期望的结果吗？

请显示附加的文件。

/cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/138/10BTe.pdf

--

此致、

Ryo ***

您好、Vikrams-san。

>我们在今天的其中一个主板上复制与您类似的问题时遇到了一些突破。 我将在收到最终数据后编译调试步骤、并在6月23日前与您和 FAE 共享调试配置。 然后、如果需要、我们可以致电要求在后续步骤中保持一致。

何时可以有调试配置？

我有什么可以为您提供的服务吗？

期待收到您的回复。

此致、

Ryo ***

你好 Ryo ***、

非常感谢您的耐心等待。 我们最终拥有软件/硬件设置、显示了我们在不同电路板上的改进。 尽管我们的电路板测量值和电路板测量值不相同、但我们认为、执行这些设置也应该为您提供改进。

以下是步骤：

将 CT1、CT2、CT3、CT4连接的电容器更改为每个值10nF (C3131、C3132、C3133、C3134)，并尝试以下实验以符合1000BTx 标准：

1.所有通道并行运行的实验：

请尝试以下配置。

配置1：测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239中所示

检查通道 B 是否符合以下配置：

配置7： 测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + {reg<0x0025>更改为0x0420}中所示

配置8： 测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0420｝+ ｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置9：  测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0420｝+ ｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

检查通道 C 是否符合以下配置：

配置10： 测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + {reg<0x0025>更改为0x0440}中所示

配置11： 测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0440｝+ ｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置12：  测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0440｝+ ｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

检查通道 D 是否符合以下配置：

配置13： 测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + {reg<0x0025>更改为0x0460}中所示

配置14： 测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0460｝+ ｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置15：  测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0460｝+ ｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

此外、如果可能、请在您的终端尝试在 Tektronix 测试硬件上进行这些合规性测试。

--

此致、

Vikram

某种程度上，先前的邮件未正确发布，并且缺少一些行，因此请重新编辑邮件：

你好 Ryo ***、

非常感谢您的耐心等待。 我们最终拥有软件/硬件设置、显示了我们在不同电路板上的改进。 尽管我们的电路板测量值和电路板测量值不相同、但我们认为、执行这些设置也应该为您提供改进。

以下是步骤：

将 CT1、CT2、CT3、CT4连接的电容器更改为每个值10nF (C3131、C3132、C3133、C3134)，并尝试以下实验以符合1000BTx 标准：

1.所有通道并行运行的实验：

尝试以下配置：

配置1：测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239中所示

配置2：测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 +｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置3：测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 +｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

2.一次激活一个频道的实验：

检查通道 A 是否符合以下配置：

配置4： 测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + {reg<0x0025>更改为0x0400}中所示

配置5： 测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0400｝+ ｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置6：  测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0400｝+ ｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

检查通道 B 是否符合以下配置：

配置7： 测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + {reg<0x0025>更改为0x0420}中所示

配置8： 测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0420｝+ ｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置9：  测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0420｝+ ｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

检查通道 C 是否符合以下配置：

配置10： 测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + {reg<0x0025>更改为0x0440}中所示

配置11： 测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0440｝+ ｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置12：  测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0440｝+ ｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

检查通道 D 是否符合以下配置：

配置13： 测试模式1的默认配置，如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + {reg<0x0025>更改为0x0460}中所示

配置14： 测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0460｝+ ｛REG<0x00CE>=0xB800 ｝中所示

配置15：  测试模式1的默认配置、如应用手册 http://www.ti.com/lit/pdf/snla239 + ｛REG<0x0025>更改为0x0460｝+ ｛REG<0x009F>=0xCCCC｝中所示

此外、如果可能、请在您的终端尝试在 Tektronix 测试硬件上进行这些合规性测试。

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此致、

Vikram

您好 Vikram。

感谢您展示了一些软件/硬件设置。
我会尝试。

下面我有一些问题：

1) 1)您能告诉我 Reg <0x00CE>和 Reg <0x009F>的内容吗？
2) 2) 10BTe 的配置是 Reg <0x009F>=0xCCCC 吗？

此致、

Ryo ***

您好 Ryo、

您是否能够尝试配置？

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此致、

Vikram

您好 Vikram

我们计划于7月14日在外部测试网站上试用。

此致、

Ryo ***