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[参考译文] SN75DP159:Si 测试失败

Guru**** 2925550 points

Other Parts Discussed in Thread: SN75DP159

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1169145/sn75dp159-si-test-fail

器件型号:SN75DP159

您好、先生、

我们使用 了 SN75DP159、但在 SI 测试报告中始终显示"对内偏差失败"。

请提供一些解决此问题的建议吗?

是否可以调整 绑带以解决此问题?

请将我添加到朋友、我将通过隐私消息传递原理图和 SI 报告。

谢谢!

Jeff

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    Jeff

    它们是否在输出端具有共模扼流圈?

    谢谢

    David

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    尊敬的 Daivd:

     输出侧没有共模扼流圈。 谢谢!

    Jeff

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    Jeff

    请添加适当的共模扼流圈、因为这将有助于通过线对内偏斜测试。

    谢谢

    David

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    尊敬的 David:

    导致添加共模扼流圈需要更改布局、是否可以调整 EQ 或压摆来改善?

    谢谢!

    Jeff

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    Jeff

    部分线对内偏斜来自电路板本身、因为 PCB 制造不一致。  共模扼流圈的配置与变压器相同、因此当两条线路上升沿和下降沿的时序不平衡时、共模扼流圈可以通过在另一侧产生感应电动势来确保电流平衡。 这种行为的结果是对齐差分信号的时序、从而改善 差分对内偏移。  

    您可以尝试更改压摆率并查看它是否起作用、但在输出端设置扼流圈将有助于解决偏斜问题。

    谢谢

    David