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[参考译文] DS110DF410：器件间的 CTLE 增益变化

admin
Guru**** 2539500 points
Other Parts Discussed in Thread: DS110DF410

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/801376/ds110df410-ctle-gain-variation-between-part-to-part

器件型号：DS110DF410

大家好、

DS110DF410 EQ 增益设置在每个设置的不同部分之间会有多大的 dB？

我们是客户提出的、因为他们在使用固定 CTLE 模式的某些系统中遇到错误。

此致、

Kawai

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    您好、Kawai-San、
    DS110DF410器件未对此进行特性描述。 但是、根据对采用相同工艺的某些器件的了解、VCC 和温度范围内的噪声也可能为3-4dB。 理论上、我们应该使用固定的 CTLE 设置、这样它将提供具有裕度的良好 HEO/VEO 值。 因此、如果 CTLE 设置发生变化、则会导致一个主要问题。
    此致、Nasser
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    TI__Guru**** 2539500 points
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    您好、Nasser - San、

    感谢您提供相关信息。

    客户在固定 CTLE 模式下使用时、由于 CTLE 增益的这种工艺变化、您是否曾遇到过问题？

    此致、
    Kawai
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    TI__Guru**** 2539500 points
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    您好、Kawai-San、

    对于适应模式0、我预计在冷增益下会比在环境或高温条件下更高。 因此、建议在高温条件下设置调整模式0 CTLE 设置、HEO 约为0.5UI、VEO 约为200mV。 然后进入冷态、我希望看到更高的 HEO 和 VEO。

    此致、Nasser

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    您好、Nasser - San、

    感谢您提供信息。

    此致、
    Kawai