当我验证 DS250DF410的 PRBS 校验器功能时、某些问题无法解决。
1： 直接连接 DS250DF410的 TX 和 RX，发现校验器的位错误为零，没关系。但将 TX 连接到光学模块 TX，将光学模块 RX 连接到 DS250DF410的 RX，光学模块就是光 环回 。 校验器始终存在异常的位错误。 光学模块正常，我已经确认，我将光学 RX 连接到其他 BERT，没有位错误。
2：我想优化 DS250DF410寄存器的配置、更改通道寄存器0x39、然后复位 CDR 并释放 CDR、接下来我发现 CDR 无法锁定、0x78始终为0x20。 我经常尝试不同 的序列 0X39 CDR 复位 CDR 释放、不起作用。下面的寄存器配置是其中一种
例如 MCU_WIICS 0 0x4E 0xFF 0x1 0x01
MCU_WIICS：写入寄存器0x4E：器件地址0xFF：寄存器地址 0x01：写入次数 0x01：将值 写入 寄存器
例如 MCU_RIICS 0 0x4E 0x83 0x1
MCU_RIICS ：读取寄存器0x4E：器件地址0x83 ：寄存器地址 0x01：读取的数量
MCU_WIICS 0 0x4E 0xFF 0x1 0x01
MCU_WIICS 0 0x4E 0xFC 0x1 0x08
MCU_WIICS 0 0x4E 0x00 0x1 0x04
MCU_WIICS 0 0x4E 0x0A 0x1 0x0C
MCU_WIICS 0 0x4E 0x2F 0x1 0X58
MCU_WIICS 0 0x4E 0x39 0x1 0X65
MCU_WIICS 0 0x4E 0x0D 0x1 0x00
MCU_WIICS 0 0x4E 0x79 0x1 0X43
MCU_WIICS 0 0x4E 0x30 0x1 0x08
MCU_WIICS 0 0x4E 0x30 0x1 0X18
MCU_WIICS 0 0x4E 0x30 0x1 0x08
MCU_WIICS 0 0x4E 0x0A 0x1 0x00
MCU_WIICS 0 0x4E 0x82 0x1 0x40
MCU_WIICS 0 0x4E 0x82 0x1 0x00
MCU_WIICS 0 0x4E 0x82 0x1 0x80
MCU_RIICS 0 0x4E 0x83 0x1
MCU_RIICS 0 0x4E 0x84 0x1
MCU_WIICS 0 0x4E 0x82 0x1 0x00
我的问题是如何优化 RX，在 CDR 重置和释放后，CDR 没有锁定，请更正我的配置，使 DS250DF410 正常工作
总结
我的光学模块 TX 工作正常、DS250DF410 TX 和 RX 电环无位错误、光学 RX 至其他 BERT 无位错误、仅光学模块 RX 至 DS250DF410 始终存在位错误
测试条件为25.78Gbps PRBS31
