大家好、
如标题所示、当测试项目为 AIR 4kV 时、我们未通过 ESD 测试、我们使用947内部模式生成来启动面板。 ESD 测试时出现黑屏故障、但自动恢复。
我们在使用948内部图形生成时未看到问题。 因此、我们认为根本原因可能是串行器/解串器的链接。
我们尝试在 ESD 测试前后读取947 0x0A、0x0B、0x0C、但我们没有看到异常数据。
您是否有任何推荐的寄存器可供我们读取以指示根本原因？
下面是我们的工作图。 我们所知道的是、TDDI 寄存器指示了错误的 CLK。
此致、
罗伊
你好、罗伊、
感谢您提供相关信息。
[引用 userid="424310" URL"~/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1160595/ds90uh947-q1-esd-failed 作为标题、我们在测试项目为 AIR 4kV 时未通过 ESD 测试、并使用947内部模式生成来启动面板。 ESD 测试时出现黑屏故障、但自动恢复。 [/报价]不是很清楚这里描述了什么？
自动恢复是什么意思？
器件是否损坏了 ESD 以及如何恢复？
请参阅下面的绝对最大值、ESD 额定值和建议运行。 您能告诉我您所指的 ESD 限制是什么吗？
是否能够锁定在947/948之间？
您是否在 DES 端获得有效的 PCLK？
您能否在故障状态下提供 Ser/Des 的寄存器转储？
您的意思是、未发现问题？ 这是否意味着在使用948的内部图形时，显示屏上具有有效的视频输出？
为了提供更精确的隔离，您是否能够使用 TI 的 Analog LaunchPad (ALP)TI 软件完成随附的 Excel 表格测试？
e2e.ti.com/.../Testing-_2D00_-Video-pattern-_2D00_-timing-Ser_2D00_Des.xlsx
此致、
Fadi A.
你好、罗伊、
[引用 userid="424310" URL"~/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1160595/ds90uh947-q1-esd-failed/4364275 #4364275]ESD 测试时屏幕闪烁、但 ESD 测试后屏幕正常。 [/报价]好的、只有在 ESD 测试期间、屏幕才会闪烁、但一旦 ESD 测试完成、屏幕就会恢复正常？
[引用 userid="424310" URL"~/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1160595/ds90uh947-q1-esd-failed/4364275 #4364275"]执行 ESD 测试时、我们无法测量锁定引脚状态或连接 ALP、因为这会损坏仪器。在屏幕闪烁期间捕获锁定信号非常重要、因为锁定输出报告引脚用于验证 SER 和 DES 之间连接的链路完整性。 当锁定状态为高电平时、DES 中的 PLL 被锁定并验证数据和时钟是否已从串行输入中恢复并且在并行总线和 PCLK 输出上可用。
如果锁定状态为低电平，则 PLL 未锁定，这意味着串行数据未完全恢复，输出端的数据不代表从 SER 传输的数据。 例如， 如果您使用的是 TI EVM，则可以通过监控 DES EVM 上标记为“LOCK”的 LED 来轻松检查此状态。
[引用 userid="424310" URL"~/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1160595/ds90uh947-q1-esd-failed/4364275 #4364275]\n 我们想知道我们是否有寄存器可以指示根本原因、例如98x 系列更改了锁定 STS。 [/报价]在948端、您可以检查寄存器 0x1C 位0的锁定状态。
此致、
Fadi A.
您好 Fadi、
感谢您的评论。
对于948 0x1C[0]、该位是否指示当时的锁定状态？ 或者、如果锁定状态发生更改、则该位应为"0"。 我担心解锁状态仅在我们进行 ESD 测试时出现。 ESD 测试后、它将被恢复。 因此、我们可能需要更改锁定状态寄存器。
此外、正如您在下面看到的、我们的芯片可以满足低于系统级 ESD 要求、这是否意味着我们可以承受此规格的影响、并且在该规格中 IC 不会损坏或异常？ 谢谢你。
此致、
罗伊
您好、Roy、
您可以检查948侧的寄存器0x1C 以监控锁定状态。
此致、
Fadi A.
你好、罗伊、
我不确定您在 ESD 放电峰值期间是否会进行 I2C 通信。 我认为、如果您想查看高/低切换、最好监控示波器上的锁定状态。 为了捕获准确的寄存器信息、您需要处于稳定的电源状态。
[引用 userid="424310" URL"~/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1160595/ds90uh947-q1-esd-failed/4387844 #4387844"]换句话说、如果有寄存器、则表示在执行 ESD 时 LVDS 信号(948output)或 FPDlink 信号(947output)正常。 这也是可以的。在947侧、您有0x0C 寄存器、显示在 ODLI 输入上检测到有效的 PCLK、并且也检测到电缆链路。
此致、
Fadi A.
您好 Fadi、
感谢您提供信息。 实际上、在 ESD 测试期间测量 LOCK 或 I2C 等信号是危险的。 因此、这就是我想要检查是否有任何寄存器可以在发生锁定丢失等故障事件时记录故障的原因。
我想检查0x0C 寄存器信息。 根据我们的方案、我们的面板仅在执行 ESD 测试时显示了异常输出。 但在 ESD 测试之后、它可以自动恢复。 因此、我们需要知道异常现象是否来自 FPD-LINK。 遗憾的是、我们在使用 TCON patgen 或984patgen 时没有遇到这个问题。 因此、客户认为原因来自 FPD-Link。
因此、我想找到一些寄存器、这些寄存器可以指示在执行 ESD 测试时没有故障、以指出在执行 ESD 测试时、我们的 SerDes 链接是可以的。
对于0x0C[3]和0x0C[1]、我能否说在执行 ESD 测试后是否检测到错误、这意味着串行器/解串器之间的链路在 ESD 测试期间正常？
对于0x0C[2]、我认为该位是当我们使用 oLDI 输入时、它是否正确？ 在本例中、我们使用了947patgen。
对于0x0C[0]、我认为该位无法指示有用信息。 因为我们发现、在执行 ESD 之后、电池板输出是正常的、除非我们可以在 ESD 测试期间监控该位。 由于 ESD 测试有时会插入能量、因此我不确定在 ESD 测试期间是否能够读取正确的数据。
此致、
罗伊
您好 Fadi、
一个信息需要与您保持一致。 随附的图像由源 IC 供应商测量。 它表示我们的948在进行 ESD 测试时未发送 DE 信号。 持续时间大约为1.x ms。 但我们在使用948patgen 时没有遇到问题、但由于 PCLK 有限、948patgen 使用了较低的 PCLK。
如果有任何寄存器可以检查 DE 状态？
此致、
罗伊
