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器件型号：DP83TG720S-Q1 大家好、
我们客户的问题之一、 您能否提供一些故障排除建议
在使用 DP83TG720S-Q1芯片的千兆位以太网设计中、我们在实际产品上测试了 PHY 的物理层、发现一次测试的 MDI 模式转换损耗失败；详细信息如下：
请问问题是什么？ 感谢您提出任何故障排除建议。
此致、
罗美
大家好、
我们客户的问题之一、 您能否提供一些故障排除建议
在使用 DP83TG720S-Q1芯片的千兆位以太网设计中、我们在实际产品上测试了 PHY 的物理层、发现一次测试的 MDI 模式转换损耗失败；详细信息如下：
请问问题是什么？ 感谢您提出任何故障排除建议。
此致、
罗美
您好、Alvaro、
以下是客户反馈：
(1) UNH 是什么意思？
(2)正确的测试方法和设置是什么？
(三)我们的试验是委托给一个外部实验室进行的。
有两种测试方法、每种方法都由不同的外部实验室进行测试、其中一种方法如下所示、另一种方法有待确认。
YF_1000Base-T1_PMA_M 测试项目：Ω MDI 模式转换损耗适配器验证测试
测试工具：
硬件：网络分析器
软件：R&S ScopeSuite (80.1)
测试过程：
(1)连接校准器并开始校准两个端口。
(2)拆下校准并将 RF 线束连接至测试夹。
(3)将 DUT 设置为从模式并将钳位连接到 DUT
(4)单击 Next (下一步)开始测试。
最棒的酒店
Amy
您好、Alvaro、
感谢您的回答。 以下是客户提供的信息。
TRD_P 和 TRD_M 之间的差分阻抗控制在100欧姆、导线间距为8mil、导线长度为2008.19mil。 使用的 CMC 部件号是 TDK 的 ACT1210G-800-2P-TL05。
下图突出显示了布局
您好、Alvaro、
感谢您的建议！
客户反馈说他将 DP83TG720S-Q1 EVM 板带到实验室进行此测试、测试结果也失败、如下所示：
您能帮助分析问题并了解问题的位置吗？ 我们还能改进什么吗？ 谢谢你。
此致、
Amy