[参考译文] TCA9555：I2C 时序要求标准

实际上、我们担心这是一个设计问题、因此需要帮助进行澄清。

谢谢！！

您好、Sirs、

感谢您的快速回复。

那么、我是否可以知道在您的测试中使用1k 上拉电阻和50pF 负载电容的 I2C 的上升时间是多少？

喜欢... 500ns？ 800ns？ 或者？？

此外、如果上升时间大约为1000ns、TI 如何确保上升时间不会受到 TCA9555的影响？  

喜欢...有报告或任何文档？

谢谢！！

舒

"那么、我是否可以知道在您的测试中使用1k 上拉电阻和50pF 负载电容器的 I2C 的上升时间是多少？"

我无法访问该信息、但在这种负载下、您应该预计上升时间大约为42纳秒、从 Vcc 的70%到 Vcc 的30%。

"如果上升时间大约为1000ns、TI 如何确保上升时间不会受到 TCA9555的影响？ "

我查看了该器件的内部设计。 SCL 只有一个经过 ESD 结构的器件输入级。 输入缓冲器是 CMOS FET 的栅极。 除了寄生电容外、没有任何其他因素会影响从该电容产生的上升时间。

"喜欢...有报告或任何文档？"

请参阅以下文档、了解上升时间如何受到影响以及如何控制上升时间。

谢谢、

-Bobby

您好、Sirs、
很抱歉、推送了、对此有任何更新吗？
我们想知道 TI 如何定义此1000ns 规格？
因为我们遵守此规范(大约800ns)，但 BMC 始终发送错误消息。
谢谢！！

您好、Sirs、
更新我们的测试。
如果我们在 SCL 上更改2k、SDA 使用原始电阻器、我们的 BMC 将通过。
如果我们在 SDA 上更改2k、SCL 使用原始电阻器、BMC 仍会发送错误消息。
如果更改为使用 NXP PCA9555ㄝ 并在两侧使用原始电阻器(SCL/SDA)、则我们的 BMC 将通过(上升时间为800ns)。
那么、我们错过了什么吗？
您对此案例有什么想法吗？
您能否与我们分享 TI 如何定义此1000ns 规格？

谢谢！！

您好、Shu、

"我们想知道 TI 是否在内部测试了此规范？"

我们不会根据时序要求对器件进行筛选。 测试是在使用与该器件共享同一数字内核的器件之前完成的、结果是该器件通过了所有飞行颜色的时序要求(非常好)。 我一直与负责管理您所要求的客户的 FAE 合作。 我向他提供了您要求的内容(文档)。 我无法在此处提供此数据、因为它需要 NDA。  

"您能否与 TI 分享如何定义此1000ns 规格？"

I2C 标准定义为最大值。

我发现的数据显示、400pF 负载和10pF 均可在-40C 和85C 的两种情况下提供高达1100ns 的 Vcc 1.6V 和5.5V 时的 ACK。

即使在您的情况下、我们的器件也能满足低于1000ns 的要求。 在这方面没有问题、我认为您从保证的角度来看、低于1000ns 的任何内容都可以正常工作。

"您对此案例有什么想法吗？"

此问题似乎是编码问题、您会收到错误的负面信息。 根据您提供的信息，我们的设备似乎仍在工作，但您的 BMC 只是认为有问题。

'如果更改为使用 NXP PCA9555ㄝ并在两侧使用原始电阻器(SCL/SDA)、我们的 BMC 将通过(上升时间为800ns)。'

我建议尝试将 PCA9555的上升时间设置为类似于我们的器件所见的860ns 或900ns、并查看 BMC 是否认为这是故障。

-Bobby

你好、Bobby。

我们已获得您的测试结果、谢谢！！

我们在相同的条件下更改了 NXP PCA9555、上升时间为860ns、BMC 未发送任何错误消息。

因此，可以进行长时间验证，因为此问题不会出现在每个读取/写入条件下，因此很可能发生。

例如、我们的 BMC 每秒读/写 TCA9555、但此问题仅在15 ~ 30分钟左右出现一次。

嘿、Shu、

"BMC 未发送任何错误消息。" BMC 是否会告诉您问题是由于上升时间所致，还是可能有其他问题发生，而您认为问题是上升时间？ (因为您可以通过使用上拉电阻器使上升时间加快来获得100%的通过？)

"因此，可以进行长时间验证，因为此问题不会出现在每个读取/写入条件下，因此很可能发生。"
我们可以设置一些操作来执行此操作、但您需要我们运行测试多长时间？ 是否100%的器件发生故障、或者故障额定值是否也较低？

谢谢、
-Bobby

您好、Sirs、

感谢您的回复。

"BMC 未发送任何错误消息。" BMC 是否会告诉您问题是由于上升时间所致，还是可能有其他问题发生，而您认为问题是上升时间？ (因为您可以通过使用上拉电阻器使上升时间加快来获得100%的通过？)

是~我们更改了快速上升时间后、100%修复了故障现象。

"因此，可以进行长时间验证，因为此问题不会出现在每个读取/写入条件下，因此很可能发生。"
我们可以设置一些操作来执行此操作、但您需要我们运行测试多长时间？ 是否100%的器件发生故障、或者故障额定值是否也较低？

当然、如果可能、我们需要100%的器件测试。

我们还需要知道有多少读取/写入时间可以满足故障现象。 (就像读/写10000次会遇到第一次失败的情况一样。。。)

舒

我创建了测试设置和代码来进行测试、并尝试今天运行测试、但出于某种原因、我遇到了问题。 我认为它与我使用的缓冲器有关。 明天我将使用另一个缓冲器重试、并返回给您。

"是否100%的器件发生故障、或者故障额定值是否也较低？

当然、如果可能、我们需要100%的器件测试。"
^您似乎误解了我要问的问题。 测试并发现故障时的性能。 您是否在所有电路板上或仅在少数电路板上看到了该问题？

-Bobby

您好、Sirs、

感谢您的回复。

我们可以在我们的所有板上看到该问题。