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[参考译文] SN65LVDS180-Q1:在-40C 下无法满足1mA ICC 禁用限值测试。

Guru**** 2468700 points
Other Parts Discussed in Thread: SN65LVDS180-Q1, SN65LVDS180

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/647301/sn65lvds180-q1-having-trouble-meeting-1ma-limit-of-icc-disabled-test-at--40c

器件型号:SN65LVDS180-Q1
主题中讨论的其他器件: SN65LVDS180

此参数 ICC 在数据表上有4种陈述方式、一次用于活动条件、3种用于禁用条件。  对于"禁用"测试、我在-40C 下无法满足1mA 限制。  

没有 给出设置条件、但我假设 DE 引脚被驱动为低电平、/RE 引脚驱动为高电平。  我在这些引脚上使用0V 和 VCC、并相信所有其他输入无关。  测试期间 VCC 为3.6V。  测试在室温和高温条件下都能正常工作、但在低温条件下测试的许多样本都无法正常工作。  我希望能够深入了解制造商的测试设置条件、并确保这实际上已经过生产测试。  此外、了解 SN65LVDS180-Q1和 SN65LVDS180之间的区别可能会有所帮助?  

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    尊敬的 Lance:

    什么是 DUT 温度和空气温度? 由于结霜而失效。 当您说不符合1mA 最大规格时、您确切测量的 ICC 电流是多少?

    此致、
    Dennis
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    使用器件下方的热电偶测量 DUT 的温度为-40C。  空气强制设置为将 DUT 驱动至-40C、并在器件浸渍一段时间后稳定在大约-45或更低。  我有干燥空气强制进入 DUT 插座、因此不含水分。  我将在 ATE 上测试该值。  对于设置条件、VCC 为3.6V、/RE 引脚被强制为3.6V、而 DE 引脚被强制为0V。  输入无关、但我不想将其悬空、因此我也强制它们为3.6V、但强制输入为0V 可提供相同的测量。  我在进行测量之前使用了大量的时间(100mS)延迟。  器件在室温下通过、105C 时具有足够的裕度、但在-40C 下、我看到相对于1mA 限值大约2mA。

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    尊敬的 Lance:

    设置条件对我来说很好。 这是您应该测试的方法。 您是否尝试将输入引脚悬空? 电流测量的 ATE 测试仪分辨率是多少? 您是否看到在3-5分钟浸泡期间泄漏电流逐渐增大?

    此器件早已发布。 这是 SOIC 还是 TSSOP 封装?

    您能否发送 ATE 板的原理图和照片? 最好在-40C (ATE 板和热流)下包含一张完整测试设置的照片。 我的电子邮件是 dennis.wu@ti.com

    此致、
    Dennis
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    尊敬的 Lance:

    根据以下数据、 在-40°C 时进行断电 ICC (ICC_DIS)测量。  平均值为594uA。

    希望这对您有所帮助。

    Dennis

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    谢谢、我刚刚向您发送了一封电子邮件、邮件地址为您提供的地址。 好奇在这个测试期间输入在做什么