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[参考译文] TLK10034：生成 CRPAT 和 CJPAT 模式

admin
Guru**** 2487425 points
Other Parts Discussed in Thread: TLK10034

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/671123/tlk10034-produce-a-crpat-and-cjpat-patterns

器件型号：TLK10034

您好！

 我在使用 Ls 侧测试16个 XAUI 通道的设计中使用 TLK10034。 我需要生成 CRPAT 和 CJPAT 模式 、但 TLK10034 DS 和应用报告 SLLA351提供了不同的信息。 根据 DS、寄存器1E 0x000B、位11和5：4、表5-41、 100的设置为 N/A 应用报告在表1中指出、100是 CRPAT 的简称。

 

哪一项是正确的？

 

如果 DS 正确、并且我应该使用表5-100中的寄存器01 0x8002、那么我应该使用什么寄存器来检查每个通道的错误计数？

 

此外、在哪里可以找到 DS 中反复提到的"测试程序"？  

谢谢、

David

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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好！
    已通过电子邮件回答。 在此处重复介绍、以获得一般优势... 如果客户想要在 LS 侧(4个通道)测试 KR 模式 XAUI CRPAT/CJPAT、他们可以使用位1.8002[3：2]来启用模式生成(第94页)、1.8003[11：10]来启用模式验证(第95页)、并使用位1.8019/1.801A 来设置错误计数器(第97页)。
    此致、
    相位
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    从第97页(1.32793和1.32794)开始，错误计数器中的 LN0-LN3标识在哪里？ 我看到它们之间有32位、但所有其他 LN 错误计数都是16位。

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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好！

    是；CR/CJ 测试模式的错误计数器为32位。 这位于 KR 发送侧(高速侧-它是一个通道)。 如果我误解了您的问题、请告诉我。

    此致、
    相位
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    谢谢、但我如何区分低速通道 L0-L3？ 所有其他错误计数器在每个通道上都有单独的寄存器。

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    TI__Guru**** 2487425 points
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    Tim、您好！

    CR/CJ 测试模式没有单独的信道错误计数器、因为该模式基于数据包、并且4个信道中的位合并为数据包。 如果要检查单个通道、则可以使用其他测试模式之一。

    此致、
    相位
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好、Yaser、
    基于数据包、我假设通道之间存在最大偏差或 TLK10034内的数据对齐。 您知道这是什么吗？
    此外、应用报告 SLLA351中的表1是否存在任何事实、即0x1E 寄存器地址0x000B、位10：8可设置为011或100以在单个通道上生成 CRPAT？

    谢谢你
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    Tim、您好！

    Ls 侧有一个关于“线对内输入偏斜”的技术规格(请见4.9)。 如第5.1节和5.3.1.1节所述、还有通道对齐。

    在单个通道上生成 CRPAT 意味着什么？ 位[10：8]用于 HS 侧。

    此致、
    相位
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好、Yaser、

     在我的应用中、TLK10034 LS 通道用于测试 ATE 上的16个3.126Gbps XAUI 串行器/解串器通道。 未使用 HS 通道。   我的目的是在每个 LS 通道上生成/检测 CRPAT。 我使用应用报告 SLLA351和 TLK10034提出过程应用报告来指导我的设计。 在每种情况   下、向 LS CRPAT 生成方法时、需要为 CRPAT 长段写入3'b011到｛30.11.11、30.11.5：4｝、或为 CRPAT 短段写入3'b100。

     我的应用无法满足通道之间的任何偏差要求。

    当我使用上述设置对输出进行范围调整时、它是一个1010... 图形。

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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好、Tim、

    模式1010... 这意味着它被设置为高频率模式(设置000)。 将所有内容设置为需要后、您可以读取寄存器30.11、30.12和30.15、然后向我发送您得到的内容吗？ 谢谢。

    此致、
    相位
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好、Yaser、

    30.11 = 0x0F30

    30.12 = 0x03F0

    30.15 = 0x2000  我的结果与 LS_PLL_LOCK 位混合。

    谢谢、

      Tim

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    TI__Guru**** 2487425 points
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    P.S. 我之前的回答是、我将器件配置为使用 KR_VS_TP_GEN_CONTROL 生成 CRPAT。 我从您之前的回答中收集到、这种模式在我的应用中不合适、因为四个通道需要满足最小偏差参数。

    在尝试使用寄存器30.11生成 CRPAT_long 的模式下、回读为0x07F0。
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好、Tim、

    您能否向我发送您的完整过程：您向哪些寄存器写入什么内容？
    如果要在 LS 侧(4个通道 x 4个通道)测试 KX 模式 CRPAT 长/短、应使用位30.11[7：4](第117页)启用图形生成/验证、30.15[14](第118页)检查测试图形对齐状态、并使用寄存器30.17 (第118页)检查错误计数器。 通过位30.12[13：12](第117页)选择每个通道状态。

    此致、
    相位
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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好、Yaser、

    这是我拥有的内容。 全部为十六进制：

    1E.0000 0820、 1E.0001 4B80、1E.0002 810D、 1E.0003 8040、1E.0006 F115、 1E.0007 AC04、1E.000a 5100、1E.000b 07F0

    综上所述、我希望能够从所有 LS 通道生成 CRPAT 数据。

    谢谢、

       Tim

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    TI__Guru**** 2487425 points
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    您好、Tim、

    由于器件需要处于 KR 模式以在 LS 侧生成 XAUI 模式、因此生成这些模式的测试模式寄存器是 KR 寄存器(KR_VS_TP_GEN_CONTROL、KR_VS_TP_VER_CONTROL)。 很抱歉造成混淆。

    在 TLK10034启动过程文档中，有一个标题为“KR with Auto Negotiation，Link Training，LS Test Patterns with 156.25MHz/312.5MHz REFCLK”的部分，您需要遵循以下顺序：
    启用 KR LS 测试模式生成
    231–1 PRBS /223–1 PRBS / 27–1 PRBS–将1'B1写入30.11.7
    高/混合/低频–将1'B1写入1.32770.0
    CRPAT–将1'B1写入到1.32770.3
    CJPAT–将1'B1写入到1.32770.2
    启用 KR LS 测试模式验证
    231–1 PRBS /223–1 PRBS / 27–1 PRBS–将1'B1写入30.11.6
    高/混合/低频–将1'B1写入到1.32771.8
    CRPAT–将1'B1写入1.32771.11
    CJPAT–将1'B1写入到1.32771.10

    此致、
    相位