[参考译文] DS90UH925QSEVB：板上的 S 参数测量

admin

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：DS90UH925QSEVB

您好！

我想让您了解测量插入损耗的测试方法和工具以及此 FPDLink 评估板或其他 FPDLink 板上的其他 S 参数。

为了实现精确的测量、VNA 是最佳解决方案、但要使用 VNA、我们需要在芯片的最高级别添加 SMA。遗憾的是、添加此类额外连接器会导致阻抗不连续性、因此会对信号完整性产生负面影响。

你同意我的说法吗？

您对测试这些参数的建议是什么？要使用时域方法？您是否有任何测试方法或标准可供选择？

感谢您的支持、

此致、

纪尧姆

0 admin 7 年多前

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您好 Guillaume、

时域将面临相同的阻抗不连续性挑战。

我使用所需的适配器进行 VNA 焊件校准、以便消除适配器效应。

这需要在您的外壳中使用 SMA 连接器和配接性别的焊接件。通过这种方法、您可以将校准平面扩展到 SMA 适配器的末端、并获得精确的测量结果。

Mike

0 admin 7 年多前

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尊敬的 Mike：

感谢您的回答。
我将重新拟订一个位：如果我保留 SMA 连接器、我肯定会在任何测试方法中遇到相同的阻抗不连续性挑战。

我的想法不是在电路板上添加任何 SMA 连接器进行测量、而是使用另一种方法通过使用2端口测量(因此使用电路板连接器的2个 Diff 端口)而不是4端口测量来推导 TDR 测量(SET2DIL)产生的差分插入损耗 (使用板连接器的2个 Diff 端口和芯片级的2个 SMA 连接器端口)。

此致、

纪尧姆

0 admin 7 年多前

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您好 Guillaume、
这是 VNA 专家在 www.keysight.com 上的问题
此外、您还可以尝试联系编写您共享的 DesignCon 白皮书的工程师。
如果您对我们的 FPD-Link 产品有任何特定问题、我可以为您提供帮助。
此致、
Mike

0 admin 7 年多前

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尊敬的 Mike：

感谢您的建议。我将与他们联系。

此致、

纪尧姆

0 admin 7 年多前

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您好 Guillaume、

除非您对 TI 器件有进一步的疑问、否则请关闭此选项。

Mike

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