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[参考译文] SN65HVD3083E：噪声进入输入/输出端子(A、B、Z、Y)时 IC 损坏

admin
Guru**** 2652575 points

Other Parts Discussed in Thread: SN65HVD3083E

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/681654/sn65hvd3083e-ic-destruction-when-noise-enters-the-input-output-terminals-a-b-z-y

器件型号：SN65HVD3083E

Adrian、您好！
感谢你的答复。 很抱歉我迟到了。

如果可能、请告诉我器件名称和 DE 引脚的测试结果。
(如果测试结果可应用于 SN65HVD3083E。)

如果测试结果不能应用于 SN65HVD3083E、请回复我、结果毫无意义。

此致、
DIE-K

  • 0
    TI__Guru**** 2652575 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、DIE-K、

    上个月、我与 Adrian 讨论了这个问题。 为了澄清他的答案、据我们所知、当 DE 引脚保持在高电平状态时、我们遗憾地没有对 SN65HVD3083E 执行任何瞬态抗扰度测试。 这可能是在实际应用中最好的评估方法。 不过、如果我们可以提供更多信息、请告知我们。

    此致、
    最大