主题中讨论的其他器件:TUSB214、
你(们)好
我的客户希望使用 I2C 设置 TUSB214。
它们将寄存器设置为"AC Boost=Level 1"和"DC Boost=40mV"、如下所示。
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- [TUSB214 V_0x03] 0x75 [0111010101]
- [TUSB214 V_0x01] 0x18 [级别1 - 00011000]
-[TUSB214 V_0x0E] 0x0B [40mV - 00001011]
-[TUSB214 V_0x03] 0x74 [01110100]
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读取寄存器后、它们仅更改了寄存器红色标记位。
但 VREG 没有输出电压、输出电流低于500mA。
因此、他们执行了如下读取/写入测试。
优先级、我们立即写入数据并读取数据。
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- [TUSB214 V_0x03] 0x75
- [TUSB214 V_0x01] 0x18 <=写入数据
- [TUSB214 R_V_0x01] 0x18 <=读取数据
- [TUSB214 V_0x0E] 0x0B <=写入数据
- [TUSB214 R_V_0x0E] 0x0B <=读取数据
- [TUSB214 V_0x03] 0x74 <=写入数据
-[TUSB214 R_V_0x03] 0x74 <=读取数据
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上述数据似乎没有问题。
但是、当 CFG_ACTIVE 复位为0然后再次读取时、数据已更改。
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- [TUSB214 R_V_0x01] 0x18
- [TUSB214 R_V_0x0E] 0x03
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我认为、由于上述数据变化、VREG 和 DCP 电流会出现这种情况。
为什么在 CFG_ACTIVE 设置0之后数据发生变化?
让我知道如何解决这个问题。
