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[参考译文] TIC10024-Q1：BCM 中使用的接触式监控器故障模式

admin
Guru**** 1139930 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1223281/tic10024-q1-failure-modes-of-contact-monitor-used-in-our-bcm

器件型号：TIC10024-Q1

您好！

是从事 ISO-26262第5部分工作的硬件工程师。 我正在分析随机硬件故障的影响，我需要对 TIC10024QDCP * Q1的安全文档中包含的一些故障模式进行一些说明。
故障模式包括：

  • 监控系统和保护错误
  • 逻辑块和时钟故障
  • 通信错误

每种失效模式的确切影响是什么？

此外、湿性电流故障包括在哪种故障模式下？

此致、提前感谢、


Alexis

  • 0
    TI__Guru**** 1139930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Alexis：

    • 监控系统和保护错误
      • 这将是输入引脚监控和 ESD 保护电路故障、如果损坏、则可能无法监控连接到该输入引脚的开关。  湿性电流故障最好属于这一类。
    • 逻辑块和时钟故障
      • 这将是与内部状态机和时钟振荡器电路相关的数字逻辑块中的故障、可能会妨碍正常计时和状态更改功能。
    • 通信错误
      • 这将是一个会影响 SPI 通信的故障。

    此致、

    Jonathan

  • 0
    TI__Guru**** 1139930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jonathan：谢谢！

    在这个主题之后的最后一件事、数字块的故障会以某种方式影响 SPI？ MCU 可以检测到它？

  • 0
    TI__Guru**** 1139930 points
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    尊敬的 Alexis：

    SPI 块在事务中使用了奇偶校验位、可用于检测位序列中的错误、该错误"可能"是由某种器件故障导致的、会向 MCU 生成中断。  此外、SPI 块会对 SPI 事务期间的时钟脉冲进行计数、以确保产生确切的32个时钟脉冲(或位)。  错误数量的时钟脉冲或数据位将导致失败、这也可能是 SPI 故障的指示、这也会生成到 MCU 的中断。

    该器件还对所有可写配置寄存器使用 CRC 计算。  启动 CRC 计算后、所有器件寄存器都将通过 CRC 计算过程运行、并且结果可由 MCU 读回和验证。  如果任何寄存器位发生更改、CRC 值将与预期值不同、MCU 可以知道器件配置的完整性存在问题、并且该问题可能已损坏、需要重新配置。  

    器件还将检查出厂默认值是否在器件初始化时成功加载。  如果此操作失败、则可能表明器件出现故障并向 MCU 生成中断。  另外、ADC 还具有自诊断测试、可用于确定 ADC 是否准确且工作正常。  这也可由 MCU 定期监控并生成中断。

    此致、

    Jonathan