是否存在 ESD 二极管闩锁的风险? 是否应该将这一点考虑在设计中?
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是否存在 ESD 二极管闩锁的风险? 是否应该将这一点考虑在设计中?
在 ESD 环境中、闩锁是指在 ESD 冲击经过后由于连续导通而使保护器件发生电气过载的情况。 这可能会损坏 ESD 二极管并影响信号传输。
总之、如果在额定反向工作最大电压(VRWM)下运行、浅反向二极管不会发生闩锁。 但是、使用深度迅速反向二极管时、当线路电压高于保持电压(VHold)和线路电流高于保持电流时、在 ESD 冲击后可能发生闩锁。
更多详细信息如下:
在 ESD 冲击期间、ESD 二极管可能会出现临时的负电阻、其中电压会"迅速反向"到保持电压。 下方显示了保持电压(VH)和反向工作电压(VRWM)的两个示例 IV 图。
迅速反向是 VH 和 VBR 之间的差异、存在浅(左)和深迅速反向(右)。 当需要较低的钳位电压时、深度迅速反向是有益的。 但是、深度迅速反向产生闩锁的风险最高。
请注意、上面两个图表中都标记了 VRWM 的位置。 对于浅反向二极管(左)、VRWM 低于 VH。 对于深度迅速反向(右侧)、VRWM 高于 VH。
在 ESD 冲击期间、当电压电平超过电压击穿(VBR、也称为电压触发器)时、会发生迅速反向、二极管会按照设计将电流分流至接地。 在此期间、二极管会短暂进入锁存状态、在该状态下、危险电流水平会从受保护系统中分流。 该时间范围从纳秒到微秒不等。
浅扣式:
对于浅型迅速反向 ESD 二极管、VH 明显高于工作电压(VOP)、因此没有闩锁的风险。
选择 ESD 二极管来保护系统免受上述任意类型的迅速反向时、VOP 不应超过 VRWM。
深度快退:
必须以不同的方式处理深度迅速反向二极管。 当器件例行在 VH 和 VBR 之间运行时、在发生 ESD 冲击等触发事件后、它有机会保持锁存状态。
在这些条件下、一个深度迅速反向器件将会闩锁:二极管完成传导 ESD 冲击、线路上的电压保持在 VH 以上、线路上的电流高于保持电流(IHold)。 如果在 ESD 冲击后电压没有下降到低于 VH、则二极管将继续将电流分流到地。
发生闩锁时、可能存在软故障或硬故障。 当数据线返回到低电平或隐性状态(即0位)时、软故障可能会复位。 硬故障是指二极管由于长时间承受的高电流而永久损坏。 由于 ESD 二极管无法长时间维持高于 IHold 的电流、因此这种情况会使系统不受保护。
示例:
为了确定二极管是否存在闩锁风险、我们以 ESD321 为例。 要查找迅速反向变化的类型、请观察下面突出显示的电气特性。
此处我们可以看到、VRWM 为3.6V、VHold 为5.1V。 由于 VRWM 小于 VHold、因此该器件具有浅型迅速反向。 假设工作电压不超过 VRWM、则不存在闩锁风险。
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