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[参考译文] TCA6424A:回流阶段无法减少所见的空洞

Guru**** 2380860 points
Other Parts Discussed in Thread: TCA6424A
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1267393/tca6424a-the-reflow-stage-we-cannot-reduces-the-amount-of-voiding-seen

器件型号:TCA6424A

您好、支持团队

关于 TCA6424A 回流阶段我们不能减少所看到的空洞量...

目前、我们的 Epad 空洞比为25%

有任何副作用吗?

或者、如果 Epad 空洞比低于50%、则按照 IPC-7093进行操作。 它足够好了吗?

如有任何建议、请告知我。

谢谢。

此致、

劳伦斯

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    劳伦斯、您好!

    这是我们在数据表中没有为器件介绍的规格。 我没有足够的知识来知道此器件是否允许25%的空洞。 我的问题是将器件的中心焊盘连接到一个较大的金属平面、以实现更大的散热、可以使用一个接地平面。 然后进行检查、确保通过 ICC 的总电流处于数据表的电气规格范围内。  

    通过查看提供的 theta JA 与焊锡空洞(%)关系图、可以看出0%和50%焊锡空洞之间的差异不大。 因此、只要焊点的焊锡空洞<50%、我认为就可以了。 如果焊点空洞为80%、那么我会看到对热参数的影响更大。 这可能会导致芯片出现问题、但即使对于80%的情况、也要确保的一种方法是检查您在 P 端口上驱动的负载并监控通过 ICC 的总电流。  

    此致、

    泰勒