您好、
在我的设计中， DS125DF1610被用在数据路径的中间，例如，A ---- DS125DF1610 -- B、以10Gbps 运行
我能够控制输出 A、因此它可以驱动电气空闲波形(P 和 N 都达到相同的共模电压)、
当我的项目正在运行时、的输出将类似于电气空闲、然后是正常数据、然后是电气空闲、然后是正常数据等。 EI 时间是否超过100ms？
我运行此测试 490次、因为第49个周期出现错误。
1) 1)当 A 正在驱动 EI 时、信号检测将无效、0x78将为0x00
2) 2)当 A 正在驱动正常数据时、信号检测将有效、但0x78为0x20、CDR 解锁、
3) 3)我试图将0xA 控制到0xc 以重置该通道、仍然是相同的现象。
4) 4)我用硬件复位引脚复位整个芯片、16通道、然后我的测试再次工作。
这是一个错误吗？ 我的流程出了什么问题？
谢谢
克里斯
您好、Evan：
感谢您的快速响应。
在我的设计中、复位保持100毫秒、然后是初始化过程、因此应该超过100毫秒。
在通道寄存器0x34[6]中 ，默认情况下， 在信号 检测变为低电平100 ms 后，所有模块(信号检测除外)都将断电。
延长工作时间会有所帮助吗？ 我复制了下面的图表、如果我使用200ms、那么数字内核、EQ 和其它块应该全部断电、对吧？ 如果是、状态机也应断电、对吗？
我无法使用复位引脚复位整个16个通道、因为我只能对通道8 (通道编号、0、1..15)产生此问题
我尝试过、0xA[3：2]= 2'b11两个都不起作用。
对于0x0C[3]位、如果该错误再次发生、我将尝试使用它。
当输入为 EI 且正常数据低于时、我复制了通道8的寄存器：
---------------- 通道8输入是 EI，寄存器转储-------------------------------------------------------
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 a b c d e f
0x00：00 00 00 01 01 01 60 00 50 6F 08 b4 93 69
0x10：3a 20 e0 90 00 12 7a 36 40 20 a0 03 90 00 E1 55
0x20：00 00 00 40 03 78 00 00 30 0f f2 00 B6
0x30：00 38 11 88 bf 1f 30 00 00 00 42 4F 35 43 C7
0x40：00 01 04 10 40 08 80 03 0c 30 41 50 c0 60 90
0x50：88 82 a0 46 52 8c b0 C8 57 5d 69 75 D5 99 96 A5
0x60：00 00 00 00 00 00 20 00 0A 22 40 00 00 80
0x70：03 20 00 00 00 22 1a 00 10 00 00 00 48 13 3a
0x80：00 E4 00 00 00 00 00 00 00 01 D1 00 00 02 1c 00
0x90：00 00 00 00 00 14 00 0c 3f 3f 00 D5 99 96 A5
---------------- 通道8输入是正常数据输入，寄存器转储-------------------------------------------------------
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 a b c d e f
0x00：00 80 00 01 01 01 60 00 50 6F 08 b4 93 69
0x10：3a 20 e0 90 00 12 7a 36 40 20 a0 03 90 00 E1 55
0x20：00 00 00 40 03 78 00 00 30 0f f2 00 B6
0x30：00 38 11 88 bf 1f 30 00 00 00 42 4F 35 43 C7
0x40：00 01 04 10 40 08 80 03 0c 30 41 50 c0 60 90
0x50：88 82 a0 46 52 8c b0 C8 57 5d 69 75 D5 99 96 A5
0x60：00 00 00 00 00 00 20 00 0A 22 40 00 00 80
0x70：03 20 00 00 00 22 1a 20 10 00 00 00 48 13 3a
0x80：00 E4 00 00 00 00 00 00 00 01 D1 00 00 02 1c 00
0x90：00 00 00 00 00 14 00 0c 3f 3f 00 D5 99 96 A5
此致
克里斯
