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器件型号：DS100DF410 主题中讨论的其他器件： USB2ANY
您好、Lucas：
此螺纹适用于 Lanner 的 DS100DF410。
我在公共论坛上打开了一个话题、即 Lanner 还将通过 E2E 与您一起关注此案例、谢谢。
尝试通过重定时器微调 SoC NXP TX 模式以测量 SI 后、出现错误；以下是测量结果。
NXP TX 图形波形已尝试为最佳配置、您可能会看到波形优于通过重定时器1。
Lanner 已通过 SW 对重定时器振幅/去加重进行了微调，但似乎没有来自设置的响应。
此外、他们还就 TI 重定时器的 XFI SI 测量问题咨询了 SI 工程师、该问题曾由 TI US FAE 进行微调、由 EEPROM 通过使用 SigCon 工具的重定时器 EVB 进行设置。
需要解决几个问题：
- EEPROM 是否是 DS100DF410的必备器件？
- 为什么原始 TX 图形波形优于重定时器输出？ 如何进行微调？
期待你的回复, THX。
此致、
戴夫
