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[参考译文] TCAN1043-Q1:nFault 返回分析 QEM-CCR-2312-00886 CPR231092014

Guru**** 2540720 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1319035/tcan1043-q1-nfault-returned-analysis-qem-ccr-2312-00886-cpr231092014

器件型号:TCAN1043-Q1
主题中讨论的其他器件:TCAN1043Strike

我在汽车行业工作、我们的设计中包括 TCAN1043A 网络唤醒收发器。 在整个环境测试过程中、我们经常遇到器件故障。  

最初在双 µController 设计中、我们使用了两个收发器。 对于两个收发器的 INH 输出、我们选择10kΩ(实际上是并行的5kΩ)作为下拉电阻。 这使得每个收发器都能够唤醒两个电源芯片(PMIC)。  

我们为您的质量团队开启了故障分析、分析结果如下所示:

QEM-CCR-2312-00886 CPR231092014  

返回故障分析时、引脚(8) nFAULT 上的布线损坏很大。  

我们再次查看了我们的设计、发现下拉电阻值通过 INH 引脚使电流高于1mA 的建议工作条件、但未超过6mA 的绝对最大值。 无论如何、我们都更新了我们的设计、增加 INH 引脚上的下拉电阻以有效地实现50k、并将最大电流消耗降低到小于1mA。  

在接收 FA 结果之前、我们假设 INH 是 IC 故障的可能原因、但 FA 结果并不明确支持这一点。 在芯片内部、INH 引脚的运行方式与 nFAULT 损坏情况非常接近、我正在寻找相关人员来讨论是否存在与我们的设计缺陷有关的链接以及发生故障的 nFAULT 引脚。

我试图添加设计和故障分析的图像、但分辨率使其几乎难以辨认。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin:

    我无法在我们的系统中找到此 QEM ID。 您的格式可能与我们内部存储格式不同。 您能否分享 TT 的创建日期? 如果有与该名称关联的职位、这也会有所帮助。  

    我以前没有看到由于 INH 应力而在 nFAULT 引脚上出现故障、因此我认为这会是一个新的故障情况。 通常、如果这是根本原因、这种故障会导致 INH 引脚特性发生一些变化、即使损坏会传播到另一个引脚。  

    您能否分享更多有关您正在进行的环境测试的信息? 这是 EMC 抗扰度测试还是类似测试? 您是否会在系统中任何可能影响数字信号电压的位置直接施加故障电压? 是否可以共享 TCAN1043当前实施方案的原理图和/或布局?

    此致、  
    埃里克·肖特  

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    请尝试 CS2084878以获取案例编号。 QA 包含一个 PowerPoint、其中包含一些示波器图像以及有关我们在发现故障时所测试的内容的更多信息。

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    尊敬的 Kevin:

    感谢您分享其他文档。  

    此处识别的主要故障似乎在 nFAULT 信号上。 光学分析显示了保护二极管或驱动 FET 上该信号的金属迹线上的 EIPD。 这很可能是由该信号线上的瞬变(例如 ESD 冲击)或从引脚获取的 IO 电流超过绝对最大值(8mA)的过流情况引起的。 您能否共享 CAN1_ERR_MCU1网络中还存在哪些可能导致发生此类事件的内容? 该信号是否具有任何非板载连接器或外部偏置元件? 在组装或测试期间、此引脚是否有可能已短接到另一个信号?  

    当 EOS 发生在 IC 的芯片上时、由于这种损坏、器件的其他功能中可能会存在故障传播。 在本例中、我们可以看到 nFAULT EIPD 的一些变色出现在通向 INH 引脚的迹线上。 虽然我不认为这种金属层观察结果能够解释 INH 引脚行为的变化、但 nFAULT 引脚的损坏很可能且很可能影响了器件的某些数字逻辑。 除其他外、这可能会影响启动行为、因为状态机逻辑可能会损坏、因此在上电时未观察到 INH 信号激活这一事实并不令人感到意外。  

    希望这个背景对您有所帮助。 请告诉我、如果有任何我可以帮助提供的信息、以找到此系统中 nFAULT 损坏的解决方案。  

    此致、  
    埃里克·肖特  

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    该引脚上没有来自 CAN IC nFAULT 输出和到我们微控制器的诊断输入的支持电路。 它是简单的迹线。