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[参考译文] DP83822I:在合规性测试中应设置哪个寄存器?

Guru**** 1626620 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1319730/dp83822i-which-register-should-be-set-in-the-compliance-test

器件型号:DP83822I

我想在 100BASE-TX 模式下执行合规性测试。 根据数据表、  

我可以访问寄存器0x0027并对其进行读取。 但 PHY 不会生成特殊波形。

我不知道此寄存器是否是让 PHY 进行合规性测试的正确寄存器。

谁具有类似的此项测试经验?

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    尊敬的 Jimmy:

    在100Base-TX 模式中、寄存器0x428[4]用于启用测试模式、寄存器{0x428[5]、0x27[3]}用于选择测试模式。

    只要所选图形发生更改并需要重新配置、0x428[4]就必须从0->1复位。

    如果您还有与此相关的其他问题、请随时重新打开该线程并与您的测试模式配置共享寄存器转储。

    谢谢!

    埃文

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    您好、Evan:

      感谢您的快速回复。 我将寄存器设置为您的建议。 在我的测试中、我使用 Tektronix 的 TDSET3软件测试 PHY。

    它具有一个具有随机波形的模板波形。

    但在 DP83822数据表中、没有如下类似的波形设置。

    100BASE-TX 测试模式由寄存器0x0428中的位{[5]确定、
    [3:0]、存储在寄存器0x0027中}。 这些位决定0到4个字节的
    遵循"1"。
    00001 =在"1"之后为单个"0"
    00010 ="1"后两个"0"
    00011 ="1"后三个"0"
    00100 ="1"后四个"0"
    00101 ="1"后五个"0"
    00110 ="1"后六个"0"
    00111 =在"1"后七个"0"
    ...
    11111 ="1"后三十个"0"
    00000 =清除移位寄存器
    注1:要重新配置100Base-TX 测试模式、位[4]必须
    在寄存器0x0428中清除、然后复位为"1"以配置新的
    一部分。
    注2:执行100Base-TX 或10Base-Te 测试模式时、
    必须使用基本模式控制寄存器强制该速度
    (BMCR)、地址0x0000。

    您知道如何设置相关寄存器以生成特殊波形吗? 谢谢。

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    尊敬的 Jimmy:

    您要尝试实现哪种测试模式?

    关于可能的波形、我需要与团队就此进行讨论。 请在明天之前收到答复。

    谢谢!

    埃文

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    您好、Evan:

      通常我们将执行 100BASE-TX 正常合规性测试。 测试项目如下:

    通常 为100BASE-TX 测试项为:模板、差分输出电压、幅度对称性、上升时间、下降时间、 上升/下降时间对称性、波形过冲、抖动、占空比

    在 TDSET3手册中,我看到每个测试项目与测试模式有一个表格。

    这表明、PHY 供应商可能应该为这些测试项目制定特殊的程序?

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    尊敬的 Jimmy:

    对于此测试、请使用 snla266中的以下脚本

    此脚本会禁用自动协商、从而导致 DP83822输出杂乱的空闲。

    谢谢!

    埃文

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    您好、Evan:

      非常感谢。 我们将尝试此方法。