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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1350981/tsb12lv32-avionics-see-rates-for-the-1394-interface
可靠性估算器似乎提供了地面应用的时基故障率。
是否有适用于航空电子环境的类似信息？
约翰：
我将查看我们是否有适用于 航空电子环境的类似信息。
此致
布赖恩
谢谢你。
另一个器件是 PHY、即 TSB41BA3A。
此外、设备是否包含 Boron10？
您好、John：
航空电子环境需要什么特殊报告？ 我 认为我们团队中的任何人都不知道这一点。
航空电子设备 FADEC 页面(全权限数字式发动机控制(FADEC)设计资源| TI.com)说明：
在40千英尺(45度)的航空电子环境中、典型的高能中子通量为7500 N/cm/hr、而 NYC 的这一比率为13 N/cm/hr。 高能中子的能量级别介于1MeV 至20MeV 之间、而 可靠性估算器中的能量级别为0.7eV。 通常、器件有一个 适合 NYC 或横截面积的值、该值可根据 所需位置的磁通进行扩展。
我找到了 tsb41ba3a-ep.pdf 和 TSB12LV32-EP.pdf。 由于这些器件是 EP、我希望它们能够针对航空电子设备环境具有增强的可靠性报告。
好消息、 但遗憾的是 我们 之前从未收到过提交此类可靠性报告的请求、如果我们需要获得此类报告、可能需要一些时间。
我感到有点惊讶、因为 TI 提供了针对航空电子设备和航天的网页。
高能中子可以将软故障率推高超过1 λ。
航天应用使得派遣现场技术对设备进行循环供电变得非常困难。
这两种设备是 20多年前为 Sony 便携式摄像机开发的、因此我认为我们 当时不打算将此设备推向航空电子设备和航天市场。
有来自先前程序的测试数据。
该票证可以兑现。
谢谢！
约翰
