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什么是辐射发射？如何根据 CISPR 32 进行测试？
什么是辐射发射？如何根据 CISPR 32 进行测试？
*请注意,所有定义和参考均基于最新的 CISPR 32 标准
定义：
RE 是从器件和/或系统向周围环境发射的不良电磁 (EM) 能量。 RE 测试包括测量器件/系统释放的 EM 能量、以确保其不会发射过多的电磁能量、从而干扰其他器件或系统、或对人员和环境造成伤害。 测试标准由 CISPR 32 定义、规定了设备、测量、测试结果格式和 RE 测量的使用。
为什么辐射发射在隔离式系统中很重要？
在运行期间、隔离器必须确保不会造成有害的电磁辐射 (EMR)、从而抑制其他电子器件或系统的性能、这一点很重要。 有害的 EMR 会导致数据错误、无线通信系统中的信号丢失以及设备损坏、从而导致系统故障。
测试级别和设备
B 类设备在高达 1GHz（最高）和 1GHz 以上（最低）频率下的测试级别
辐射发射测试在 1GHz 以上和 1GHz 以下的频率范围内进行。 在 TI、我们通常在低频 (30MHz–1GHz) 和高频 (1GHz–6GHz) 范围内进行测试。 下面列出了测试中使用的设备：
消声室
受测器件 (DUT)
接收器天线
器件的电源（如果适用）
其他适当设备
测试设置和程序
RE 测试的设置（1GHz 以上和 1GHz 以下）
DUT 放置在高度为 0.8（±0.05）m 的均匀磁场区域内的非导电工作台上 对于低频 (30MHz–1GHz)、天线设置为距离 DUT 10m 远、并使用一段消声材料来分隔两者。 天线配置为水平极化和垂直极化、高度在 1m 至 4m 之间调整、步长为 1.5m。 在高频 (1GHz–6GHz) 下、天线设置在距离 DUT 3m 的位置、同时还使用一段消声材料来分隔两者。 天线配置为水平极化和垂直极化、高度在 1m 至 2m 之间调整、步长为 1m。 此设置如上所示。
测试中 ISOxxxx 的示例原理图：
测试结果
测试结果根据给定设备类别级别的场强平均值和峰值进行图形评估。 请参阅以下示例。
30MHz–1GHz B 类的测试结果
1GHz–6GHz B 类的测试结果
