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[参考译文] ISO7740:TPD,负载电容较小

Guru**** 2391355 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/1074661/iso7740-tpd-with-small-load-capacitance

部件号:ISO7740

大家好,团队  

数据表 显示 ,5V Vcc 和15pF CL 的 TPLL 为6~16ns

客户想知道如果使用2pF 等较小的 CL,tpd 会变小吗?

是否 可以估算与 CL 值对应的 tpd 值?  

谢谢。

此致,

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好,Jo,

    感谢您的帮助。

    数据表中指定的传播延迟(tpd)变化是由于样本之间的过程变化和应用程序的温度变化。 负载电容 CL 不会直接影响传播延迟,它主要影响上升和下降时间。 上升/下降时间的增加可能导致传播延迟测量值的提高,因为上升和下降边缘的50%点将在时间范围内移动。 只有当设备仍将产生所述的传播延迟时,才会出现测量错误。

    因此,为了显示传播延迟测量值,我们使用了一个典型的使用案例负载电容为15pF,估计为 tpd。 对于15pF 负载,上升/下降时间约为2ns,CL 的下降不会大大降低这些时间,因此,tpd 值不会发生太大的变化。 如果 CL 增加,上升/下降时间会增加,这可能导致 tpd 测量值增加。

    您可以参考数据表中的以下传播延迟与温度图解,它显示传播延迟与温度的变化。 如果客户的应用程序不能达到125C,而只能达到85C,那么他们可能会看到传播延迟值较低。 请注意,以下图解仅显示温度和电压的变化,不显示因过程而产生的变化。 工艺变化是因制造差异而导致的性能变化,这在数据表规格限制中作为统计数据涵盖。

    如果你还有其他问题,请告诉我,谢谢。


    此致,
    科特谢瓦·拉奥