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[参考译文] ISO7741-Q1:EMC 问题

Guru**** 2393725 points
Other Parts Discussed in Thread: ISO7741-Q1

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/999572/iso7741-q1-emc-issue

器件型号:ISO7741-Q1

各位专家:

我的客户正在将 ISO7741F 用于 SPI 隔离。 它们使用 MCU 将 EN1引脚在 特定频率(低频)下设置为低电平和高电平。 在此应用中、客户 发现重试失败、频率约为180MHz。  如果尝试将 EN1引脚固定为恒定高电平、它们可以通过 EMC 测试。 您能否帮助解释为什么频繁开关 EN1引脚会在~180MHz 时引起 EMC 问题? 有什么方法可以帮助改善这方面的情况? 谢谢你。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Arie、

    感谢您发帖到 E2E! MCU 在哪个频率切换 ISO7741F 的 EN1引脚? 完成此操作后、电路或系统中是否有任何其他变化?

    请分享电路原理图、并确认通过和失败的 RE 测试之间没有硬件变化。 如果您想私下分享原理图、请随时向我发送"连接和个人信息"请求。


    谢谢!
    Manuel Chavez

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    您好、Arie、

    我很抱歉不能早点提到这一点,但下面是上述问题和后续问题的一些背景。

    由于它们通过隔离栅传输低功耗信号、因此数字隔离器器件的辐射发射通常较低、因此我们不会想到会出现满足许多辐射要求的问题。 当 EN1引脚为恒定高电平时、通过 RE 测试可确认这一点。 在 EN1切换为低电平和高电平的测试中、由于隔离器或为其供电的器件的功率耗散变化、辐射可能会增加。

    除上述要求的信息外、如果可能、还请分享通过和失败的发射测量图。 如果您不想在这个公共论坛上分享任何此类信息、请随时如上所述直接与我联系。


    谢谢、
    Manuel Chavez

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    您好、Arie、所有人、

    此对话已脱机、如有必要、稍后将发布更新。

    180MHz 左右的发射故障可能是用于开关 EN1的频率的谐波、通过比较通过与失败发射数据来确认。

    当 EN1从低电平切换到高电平时,器件的 Vcc1引脚会发生瞬态,以便为器件的内部电路供电,并提供任何高电平输出信号和负载。 这种重复性瞬态可能会导致发射故障、如果是这种情况、可以在电源网络中添加串联电阻器或铁氧体磁珠以减小瞬态的幅度。 以下是 EN1切换为高电平时流入 ISO7741-Q1的电流图:



    在这种情况下,MCU 也可能通过控制 EN1的数据线路对发射作出贡献。 为了确认这一点、我们将评估保持 EN1为低电平是否会导致电路通过发射测试。


    谢谢、
    Manuel Chavez