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[参考译文] ISO1050:CANHI、CANLO、GND 之间的低电阻故障

Guru**** 2391125 points
Other Parts Discussed in Thread: ISO1050

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/661426/iso1050-low-resistance-failure-between-canhi-canlo-gnd

器件型号:ISO1050

大家好、

我最近有3个装置出现在我的桌子上、被描述为"无法通过 CAN 总线通信"。

这些单元经过封装、因此我首先根据参考单元测量 CANHI、CANLO、GND 和 VCC 上的 R 和 C。 我立即注意到、CAN 线路和 GND 之间的电阻以及每次发生的变化都读数低于100欧姆。

然后、我移除了灌电流以查看导致这种情况的原因-我移除了输入保护电路并再次进行测量、结果相同。

更换 ISO1050DUB 封装后、该装置再次运行。

我在第二个单元上重复了这一点、但这次只有 CANHI 和 GND 对表现出低电阻。

我已验证收发器两侧的电源电压读数为5.05V、CAN 线路由双路 CAN 总线 ESD 保护二极管和共模扼流圈保护。

这可能是什么原因、我们是否可以在设计中加入任何其他内容来防止这种情况再次发生?

出现故障的所有3个装置 [在清除标物时、标记被移除-但所有装置都是同时构建的、 因此组件可能是由同一批 ISO1050生产的同一卷带生产的],因此这可能是一个批量生产问题吗?

如果有人还想看看、我已经抽取了2个 ISO1050DUB。 如有必要、我可以提取第3个、并尝试不删除封装标记。

非常感谢。

Ryan

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryan、

    感谢您使用 TI E2E。

    • CAN 线路上的100欧姆电阻看起来很低。
      • 在一个良好的装置上、CANH 和 CANL 之间的差分阻抗应介于30k 和80k 欧姆之间;  
      • 单端阻抗读数应为其~一半。
    • 通过曲线跟踪具有.r.t GND2的 CANH 和 CANL 引脚 、可以很好地预测芯片内的任何潜在 EOS/损坏。  如果可能 、这些引脚可通过曲线跟踪至+/- 25V、电流限制小于50mA。   这将帮助我们查找内部组件提前/过早开启(如果有)的迹象
    • 您提到的第二个单元中、这似乎仅限于 CANH。 因此、上面建议的完整性检查实验可以进一步确认这是一种趋势或提供不同的数据点。 无论哪种方式、它都很有用。
    • 电源值:电压值看起来正常、应该正常。 您是否在芯片的1侧或2侧看到任何异常高的电流消耗? (与优秀的相比)
    • CANH、CANL 上的上电默认值:通常、当 CANH 和 CANL 之间提供一个60欧姆端接电阻时、TXD 输入为高电平; 在您的情况下、CAN 线路上的默认值必须为 CANH=CANL = Vcc2/2 =~2.525V [=隐性]。 如果这些引脚中的一个或两个都关闭、那么这将提供有关可能出错的其他线索。
    • 请告诉我们正在使用哪种 ESD 二极管吗? PESD1CAN 和 PESD2CAN 是常用的、但我希望仔细检查、此时不假设有任何内容。  
      • 这里的关键是定位 TVS / ESD 二极管击穿电压。  
      • 它必须高于器件的工作范围(每个数据表中的+/- 12V)、以避免中断正常运行、并且还必须低于器件的绝对最大值(=损坏额定值)、以便芯片不会损坏。
      • 当以这种方式定位时、正常操作是不间断的。 但是、当发生 ESD 或其他高压事件时、二极管将首先触发、并仍然保护器件。  
      • 如果二极管击穿电压过高、ISO1050可能会首先触发-我们不希望发生这种情况。

    • 扼流圈详细信息也有助于进行完整性检查。 电感介于11uH - 100uH 之间的扼流圈很常见。

    可能的原因:毫无疑问、仍然很早、但其中一个 CAN 引脚可能已由于 EOS 事件或在处理/处理期间损坏。 诚然、很难确定是哪个系统 EOS 事件导致了这种情况。  这也取决于选择的是哪个 ESD/TVS 二极管。 我们不知道任何问题可能由灌封进程本身引起或变得更糟,但需要加以检查。 曲线跟踪数据肯定会对此有所帮助。

    很抱歉、列表范围很广。 请随时告知我们您的想法、如果时间允许、您可以查看上述内容。 如果您愿意、我们还可以为您进行原理图审阅-不过最好通过电子邮件或私人邮件(PM)进行、以使其远离公共论坛。 然后、我们可以根据需要回圈并稍后在这里总结要点。

    我们希望这会有所帮助。  

    此致、

    Abhi

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Abhi、

    感谢您的深入且深思熟虑的回复。

    您上面所述的测试、我将在接下来的2周内执行并提供结果。
    我很高兴通过电子邮件提供有关使用的扼流圈和 ESD 二极管的信息。

    我同样认为、这可能是 EOS 事件引起的-最好能够确定这一点、并能够提供适当的保护以防止未来发生这种情况。

    我还花了很多时间来创建一个基本 ESD 仿真器、观察 ISO1050的影响、看看这是否提供了任何见解。

    如果可能、我将向您提出原理图审阅建议-我已在此处向您发送了一份包含我的电子邮件地址的请求。

    此致、
    Ryan
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    您好、Ryan、

    欢迎您、计划听起来不错。
    是的、我们一定可以通过 PM/email 查看组件(扼流圈、二极管)和原理图、然后在稍后的此处发布摘要。

    谢谢、此致、
    Abhi
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryan、

    在此处总结我们电子邮件讨论的要点:

    1) 1)离线查看原理图
    2)扼流圈看起来正常。
    3) 3)可优化 TVS 以降低风险。

    欢迎您随时与我们联系、提出任何其他问题或意见。

    此致、

    Abhi