[参考译文] ISOW7842：ISOW7842 Viso 损坏

您好、Sebastian、欢迎参加 TI 的 E2E 论坛！

根据我的理解、该 ISOW7842仅通过 IC601-2为 T600-2栅极提供电流、而不驱动跨接的负载-这是正确的吗？ 1A 电流太大、ISOW7842无法供电。

器件电源到接地的短路通常是由过压或 ESD 应力造成的、尽管 ISOW 并不常见。 您是否知道瞬态会影响 ISOW7842器件的任何引脚？ 器件何时发生短路以及系统中发生什么情况的时序细分也很有用。

请告诉我您的信息！ 我将等待您的答复。


谢谢、
Manuel Chavez

您好、Manuel、

您的理解是正确的、ISOW7842仅通过 IC601-2为 T600-2栅极供电(顺便说一下、通过开关的1A 由外部电源驱动)。 我将进行一些测量、希望 ISOW7842销毁。 复制可能需要一些时间、但我会尽快通知您。

此致。

Sebastian Reichhold

您好、Manuel、

下面是测量的一些屏幕截图。 请记住、器件仍在工作(我进行了50多次测试)、这意味着我没有故障的时序细分。

尽管如此、通道1 (黄色、1V/div)是 Viso、通道2 (绿色、2V/div)是引脚14、用于控制栅极驱动器的信号。 在第一个视图中、Viso 电压看起来正常。 引脚14信号怎么样(在高达6V 的电压下会出现短尖峰、但这也可能是由我的设置引起的、因为我必须使用10cm 长的导线来接触测量点)？

除此之外、我还会联系我们的制造商、以了解在制造过程中 ISOW7842器件是否发生了特殊情况？ 对于 ISOW7842的处理、是否有任何特殊建议？

此致。

Sebastian Reichhold

您好、Manuel、

更多信息：

使用之前、器件已烘烤(48h @ 120°C)、焊接过程中的最高温度为230°C 因此、由于损坏部件的原因、可以排除水分和焊接温度(根据数据表、260°C 是峰值温度)、对吧？

2.另一个 PCB 上有一个已损坏的 ISOW7842、其中隔离侧(栅极驱动器和 FET)的电路从未使用过。 在 FET 首次切换1A 负载之前、ISOW7842损坏。

3、我进行了一项测试、其中4个电路经过3000次测试(每个电路切换1A 3000次)。 我无法重现损坏的 ISOW7842、它们仍在工作。

我认为(由于信息原因2. 和3.) 隔离侧的电路不是 ISOW7842损坏的原因。  所有损坏的 ISOW7842的唯一共同点(我现在已经发现)是其部件标记

79A1LHT

ISOW7842F

G4

我们是否可能有不良组件(出于任何原因)？

此致。

Sebastian Reichhold

您好、Sebastian、

感谢您分享更多详细信息、这些信息对于了解您的系统中如何使用 ISOW7842F 以及如何对其进行测试非常有用。 请在下面查找我对您在上一帖子中共享的信息的意见。

1.您是否知道温度测试(48h @ 120C)是在器件通电还是未通电的情况下完成的？ 如果受电、您知道输出电压和电流是多少？ 在任何情况下、对于 ISOW7842来说、在120C 下进行48h 温度测试都不是问题、但请务必与我分享上述要求、以便再次确认。

2.您能否分享更多有关 ISOW7842故障发生的时间和具体情况的详细信息？ 您是否注意到上电过程中出现故障？ 您可以分享有关此特定测试的更多详细信息吗？

3.明白了，谢谢您运行这些测试。

我们不希望器件损坏、因为所有器件都在工厂进行了广泛的测试、只有符合数据表的器件才会出厂。 我仍将检查您收到的代码中是否有任何其他人对 ISOW 器件有任何问题。

要进一步了解该问题、请您向我分享以下信息吗？

答：我无法确定开关 T600-2是用作低侧开关还是高侧开关？

b.该开关用于静态开/关控制、还是将以特定速率打开/关闭？

c.您知道 IC601-2对峰值电流的要求是什么才能驱动开关吗？

如果您要进一步测试 ISOW 以确定是否存在任何其他故障、请确保您监控 VISO、以便能够找出导致 VISO 损坏的原因。 谢谢。


此致、
Koteshwar Rao

塞巴斯蒂安

感谢您提供示波器图像以及有关该系统的每一条信息。 关于您的波形波形、数字输出纹波预计会随负载而变化、因此1V 可能不成问题。 如果使用不同的通道、例如 B (引脚4和13)、则该波形是否重复？

您提到所有受影响的器件都具有相同的器件标识-这也是有用的信息。

感谢您的回答、并欢迎我的同事科特切瓦尔参加本主题。 由于感恩节假期、我的回复将延迟至下周。


感恩节快乐！

最棒的
Manuel Chavez

大家好、Koteshwar、Manuel、

要回答您的问题：

1.温度测试(烘烤)是在器件未通电的情况下完成的。

2.遗憾的是，我没有更详细的资料，说明故障的具体时间和具体情况。 我只能说、在测试期间、一些器件损坏(控制1A 负载的开关)、而一些器件在测试之前已经损坏。 如上所述、我尝试通过测试4个器件3000次来重现故障、但所有器件仍在工作。

A.开关 T600-2用作低侧开关。

b.该开关用于"几乎静态的开/关"控制。 这几乎意味着、开关打开(=导通) 1.5秒、然后再次关闭。 在3000次测试期间、开关每10秒打开1.5秒。

c.假设开关 T600-2的栅极完全放电、峰值电流约为5V/5Ohm = 1A。 我知道1A 对于 ISOW7842输出而言太大、但由于 Viso 几乎没有电压击穿(请参阅上面的屏幕截图)、我的原因是从大容量电容器 C600-2、C603-2和 C608-2汲取了电流 (T600-2的栅极容量远小于大容量电容器的容量)。

很难测试不同的通道、例如 B (引脚4和13)、因为它通过硬接线连接至 GND。 我必须抓取 PCB 的一些过孔/轨迹。 但在使用另一个器件进行测试时、波形几乎相同。

此致。

Sebastian Reichhold

Koteshwar、Manuel、

我有其他系统信息、我们将在离线模式下对此进行讨论。
尽快回来。

此致、Bernd