大家好、
我使用 ISO1050的客户发现一个问题、即 TX 发送数据时 RX 没有改变。
请参阅下面的原理图和波形。
您是否看到过类似的情况?
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大家好、
我使用 ISO1050的客户发现一个问题、即 TX 发送数据时 RX 没有改变。
请参阅下面的原理图和波形。
您是否看到过类似的情况?
尊敬的 Dan:
从上一张附图中可以看出、室系数为2kX、因此时间分频应为2k*10us=20ms (抱歉、所有测量的数字都是缩放设置)。
可以注意到、在正常情况下、CAN TX 将在120ns 左右引导 RX。 但是在发生"位填充错误"之前、CAN RX 与 CAN TX 同时上升。
如您所知、引脚空间较宽、可排除 SMD 的影响。 但 我仍会在这方面拍摄照片和 X 射线进行检查。
图1:发生填充错误时、您可以发现之前的 TX RX 同时变化
图2:放大图1
图3:在正常情况下、TX 引线 RX 为12X ns
12x ns 符合 IC 规格。
我通过 CAN 解码器触发该故障、触发条件为"填充错误"。
您能否猜测 TX 和 RX 同时上升的原因? 我认为这是一个突破点。
感谢您的支持:)
尊敬的 Dan:
如前一个原理图所示、CAN0_RX 和 CAN0_TX 连接到 MCU 可以直接端口。
拍照后没有发现相关 SMD 问题。
是的、在接受 X 射线测试后、我将实施 ISO1050的交换测试、这可以排除 MCU 方面的疑虑。
顺便说一下,先前的试验表明,当温度下降时,故障现象明显发生。
此时、我只使用接近 ISO1050 (仅小区域)的制冷剂。
MCU 和 ISO1050之间的距离约为18cm、因此温度变化不能直接影响 MCU 的 CAN 端口。
这使我更确信 ISO1050出现了该问题。
是的、我认为在正常的 ISO1050上、RX 和 TX 不应同时上升是正确的。
但是、如果该 ISO1050实际上发生了故障、并且可能重现此问题。
对于 ISO1050内部设计和制造流程的审查,是否可能会产生此问题?
Bgds
Jimmy
尊敬的 Dan:
这是 TI 分销商 FAE、CK。
我在 ISO1050EVM 上捕获了故障波形。
请参见下图。
您可以看到 、在 TXD 从高电平转换为低电平后、RXD 有时不会改变。
故障装置:
故障单元(放大):
正常单位:
正常单位(放大):
测试方法参见《ISO1050EVM 用户指南》。
我只使用函数发生 器来激励 TXD、然后测量 CANH、CANL 和 RXD 的波形。
顺便说一下、我发现如果我降低数据速率、故障率将会增加。
当 TXD 以1Mbps 运行时、此故障现象将消失。
但是、如果 TXD 的运行速率低于600Kbps、您可以看到故障经常发生。
Jimmy、CK、
感谢您提供更多详细信息。 我在重复我们的结尾处的失败时遇到了困难 您能帮助我提供有关该实验是如何进行的更多信息吗?
这就是我刚刚在 EVM 的实验中测试的内容:
Vcc1:5V、Vcc2:5V
TX (来自信号发生器):0-5V 150kHz 方波、占空比为75%。 在示波器上以黄色监视。
CANH / CANL:在示波器上以绿色/紫色监视。 未连接到网络上的任何其他节点。
RX:在以粉色显示的示波器上进行监控。未连接到任何其他设备。
这是我在示波器上看到的。 我尝试与您的范围相匹配。
然后、我将触发器设置为仅在 TX 低电平且 RX 高电平的时间超过500ns 时触发。 每当 RX 未能跟随 TX 时、就会触发此操作。 运行了几分钟、但示波器未触发。 因此、我无法找到 ISO1050产生位错误的实例。
此致、
Dan