[参考译文] ISOW7841：CAN#39；t 通过 EMI 测试

您好！

尽管在较低的频率范围内、但 ISOW7841在 EMI 方面存在一些问题。
如果您尚未阅读应用手册 SLLA368A、则应首先阅读该应用手册。 这里有很好的信息。
我们使用所示的技术进行了一些改进、但仍然无法实现所需的低排放。

Alex。

尊敬的 Alex：
感谢您参阅应用手册 SLLA368A、这确实是您开始设计的正确地方。

尊敬的 User5195153：

尽管 ISOW7841是辐射源、但最终产品的整体 EMI 性能在很大程度上取决于 PCB 尺寸和连接到 PCB 的电缆。 更大的 PCB 尺寸和电缆连接了 ISOW7841的辐射、远高于没有它们时的辐射水平。 因此、为了降低排放、正如 Alex 在他之前的帖子中提到的、我们建议您阅读应用手册 SLLA368A。 我共享了指向下面相同内容的链接。

www.ti.com/lit/an/slla368a/slla368a.pdf

由于您的应用是辐射标准 CISPR 25比工业发射标准严格得多的汽车应用、因此要实现辐射降低、最重要的是使用 SLLA368A 中所述的 PCB 层实施拼接电容器。 电容器的电容至少需要30pF、为了使其更有效、建议使用大于50pF 的电容器。

使用拼接电容器后、您应该会看到比发射性能有显著改善。
如果您有任何其他问题、请告诉我、谢谢。


此致、
Koteshwar Rao