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尊敬的 TI 团队:
我正在使用您的器件 ISO1540DR、它工作正常、没有问题。 我将在同一硬件中将其替换为与封装兼容的器件 ISO1640BDR。 那么、现在我面临一个问题、当时 VCC1打开、VCC1上的泄漏电压为1.7V、I2C1使用3.3V 的4.7K 上拉。 当我将这个 IC 替换为 ISO1540时、我们发现 VCC1侧没有泄漏电压。
看看这个。
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尊敬的 TI 团队:
我正在使用您的器件 ISO1540DR、它工作正常、没有问题。 我将在同一硬件中将其替换为与封装兼容的器件 ISO1640BDR。 那么、现在我面临一个问题、当时 VCC1打开、VCC1上的泄漏电压为1.7V、I2C1使用3.3V 的4.7K 上拉。 当我将这个 IC 替换为 ISO1540时、我们发现 VCC1侧没有泄漏电压。
看看这个。
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您好!
感谢您的联系。
查看您提供的原理图、我建议您考虑使用电容值为0.1 µF 的去耦电容器而不是1 µF、因为这是我们在器件数据表中建议的值。 遵循此建议将有助于确保 器件在所有数据速率下可靠运行。
关于您观察到的漏电压、我有以下问题:
-您能否确认 连接到 I2C 总线1侧的上拉电阻器 的值是4.7 kΩ?
-如何测量此漏电压? 每当引脚1与 AFE1_3V3节点完全断开时、是否直接在器件的引脚1 (VCC1)处测量电压? 或者、当引脚1连接到 AFE1_3V3节点、而未向 AFE1_3V3 节点供电时、是否正在测量该电压?
- 当您测量此漏电压时,信号是否被施加到设备的数据和时钟引脚(引脚2和3)?
-当您测量此漏电压时,使用哪个 GND 节点作为这些测量的参考? 您是否使用 GND_1、还是使用不同的 GND 节点。
-您是否仅在一个 ISO1540DR 器件上测量了该泄漏电压,或者您是否 在多个 ISO1540DR 器件上观察到了这种行为?
此致、
肯尼斯
根据您的建议 C68、C69替换为100nF/16V、我进行了更改、但问题未解决。
- 1侧上拉电阻4.7K
-当 AFE1_3V3打开(未连接)时测量 C69电容器的泄漏电压、但 I2C 总线上拉电压为3.3V
-是在测量泄漏电压时,信号被施加到 SCL1和 SDA1
-测量相对于 GND1的漏电压
我们观察到超过100个 ISO1540DR,只有 ISO1640BDR 才会出现泄漏电压问题
您好!
感谢您的更新。 很抱歉耽误了时间、联系设计团队的时间比预期的要长。
根据 ISO1640BDR 的设计、我们不希望在 VCC1与电源断开连接并且某个信号施加到 SDA1和 SCL1时在 VCC1上测量任何电压。 为了尝试帮助完成调试过程、我将在我们的评估模块之一上测试 ISO1640BDR 器件、看看我是否能够复制您的测试结果。
您能否向我提供您在 测量此泄漏电压时施加到器件 SCL1引脚的时钟信号的频率? 我需要此信息、以便我 可以在您观察到此异常行为的相同条件下测试器件。
此致、
肯尼斯
您好!
感谢您的耐心。
我使用我们的评估模块和指定的测试条件测试了 ISO1640。 执行这些测试时、我观察到、当从 I2C 总线上移除上拉电阻器时、在 VCC1引脚上测得的电压为0V。 您能否移除连接到 SDA1和 SCL1 I2C 总线引脚(1侧)的任何上拉电阻器、然后再次进行测试、以查看您是否仍然能够测量 VCC1的电压?
查看器件的配置、在 VCC1引脚上测得的任何电压都可能是器件和连接到 VCC1的上拉电阻器之间所施加信号的电压的结果。 要排除此问题、您需要移除连接到器件1侧两个 I2C 总线引脚的上拉电阻器并再次进行测试。
执行上述测试后、请告诉我您的结果、以便我们可以继续 分析 此问题。
此致、
肯尼斯