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[参考译文] SN74HCS174-Q1：X 射线测试标准

admin
Guru**** 2468610 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74HCS174-Q1

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1539564/sn74hcs174-q1-x-ray-test-standard

器件型号：SN74HCS174-Q1
主题中讨论的其他器件：SN74HCS174

工具/软件：

尊敬的专家：

 SN74HCS174-Q1 能否承受超过 5 分钟的 X 射线测试？ 我的客户 (CosMX) 在 5 分钟 X 射线条件下测试了所有 IC。 或者、我们是否有 TI 器件的 X 射线测试标准（包括持续时间，能量，环境条件）。 谢谢。

此致、

Ryker

  • 0
    TI__Guru**** 2468610 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryker、

    我已经联系了我们的测试团队。  

    我知道我们的器件将经过 X 射线筛选、但这更多地用于内部的目视检查。 至于 5 分钟的 X 射线暴露、这似乎更类似于辐射测试、我不确定我们的器件是否可以处理该问题。  

    当我们的测试团队回复我时、我会更新您。