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[参考译文] SN74LVC1G14:由于添加了 RFAB 而对数据表进行的更改

Guru**** 2508425 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74LVC1G14

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1559765/sn74lvc1g14-the-changes-to-the-datasheet-due-to-the-addition-of-rfab

器件型号:SN74LVC1G14


工具/软件:

大家好!

由于增加 RFAB 而对数据表进行的更改

在 SN74LVC1G14 的数据表中、与更新前的热阻值相比、热阻值发生了显著变化。

SN74LVC1G14 示例)

结至环境:247.2°C/W→357.1°C/W

结至外壳(顶部):154.5°C/W→263.7°C/W

结至电路板:86.8°C/W→264.4°C/W

结至顶部特征:58.0°C/W→195.6°C/W

结至电路板特征:86.4°C/W→262.2°C/W

由于晶圆直径变为 300mm、热阻值是否会发生这种显著变化?

如果您有任何背景信息、请您提供。

此致、

柳介

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    您好 Ryusuke、

    是的、您回答正确。 裸片和工艺发生了变化、这就是热性能也会发生变化的原因。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Albert:

    感谢您的答复。

    器件性能是否会由于裸片和工艺变化而下降?

    是否有任何应用手册或常见问题解答?

    我想了解由于模具和模具的变化而产生的热阻变化的机制。

    此致、

    柳介

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    您好 Ryusuke、

    性能不应受到不良影响。 \

    热性能变化是由于芯片尺寸较小所致。 因此、温度变化的影响较高。  

    我认为我们没有应用手册或常见问题解答、但这实际上是一个好主意。 我将与团队讨论、看看我们是否可以提供一个简短的常见问题解答来描述此行为。