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[参考译文] SN54SC4T00-SEP：SN54SC4T00-SEP 单粒子瞬态辐射性能

admin
Guru**** 2837190 points

Other Parts Discussed in Thread: SN54SC4T125-SEP, SN54SC4T00-SEP, SN54SC2T74-SEP

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1588022/sn54sc4t00-sep-sn54sc4t00-sep-single-event-transient-radiation-performance

器件型号： SN54SC4T00-SEP
主题中讨论的其他器件： SN54SC4T125-SEP、 SN54SC2T74-SEP

您好！

我在研究 SN54SC4T00-SEP 的辐射单粒子效应性能、并找到了报告：“SN54SC4T125-SEP 单粒子闩锁 (SEL) 辐射报告“。 该报告似乎仅讨论单粒子锁定、但我很好奇、是否进行了任何额外的测试来监控器件是否存在单粒子传输。 如果是、如果出现瞬态、我很好奇观察到了什么脉冲宽度和振幅。

谢谢您、

-欧文

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    TI__Guru**** 2837190 points
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    尊敬的 Owen：

    我们没有对此进行任何额外的测试。  

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    TI__Guru**** 2837190 points
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    您好、Albert、感谢您的快速答复。

    数据表在第三个要点下提到了单粒子瞬态特性

    听起来测试是针对 SET 执行的、但数据可能不会发布。 是这样吗?

    谢谢你

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    TI__Guru**** 2837190 points
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    尊敬的 Owen：

    这是可能的。 据我所知、您提到的报告就是我们拥有的内容。  

    可能已经执行了额外的测试、我必须咨询我们的系统团队。  

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    TI__Guru**** 2837190 points
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    明白。 我会假设数据不可用、但如果您能 让我知道您的系统 团队所说的内容、那将是极好的！

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    TI__Guru**** 2837190 points
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    嗨、Owen、您是对的、我们没有此特定功能的表征数据、因为我们的组合门不会受到瞬态测试的影响。 但是、我们对 SN54SC2T74-SEP 进行了此测试、它在单次事件中更容易发生变化。 此数据适用于该 SEL 文档中存在的同一组器件、因为它们共享设计和 IP。 您可以查看此报告、了解更多有关 www.ti.com/.../sbok085.pdf 的信息

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    TI__Guru**** 2837190 points
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    感谢您的答复、Jose。 这是非常有帮助的！

    我 看到您说这两个部分共用设计/IP。 这是否意味着两个器件共用同一个裸片？ 还是有理由说它们“足够相似“？

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    TI__Guru**** 2837190 points
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    他们都很相似。 我们的 SCxT 系列器件的主要区别在于内部逻辑单元的金属配置。 这些器件是利用相同 IP 的缓冲输入和缓冲输出器件。 电离的影响会在这些器件上体现出来。 单粒子效应会影响数字逻辑内核、但我们在 SET 中没有看到这种情况发生、因为即使我们的锁存器也不会显示任何事件。 组合逻辑将更有弹性地通过比较来设定。