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[参考译文] SN74HC595：SN74HC595 tpd 测试时序错误

admin
Guru**** 2826855 points

Other Parts Discussed in Thread: SN74HC595, SN74AHC595, SN74HCS595

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1629024/sn74hc595-sn74hc595-tpd-test-timing-error

器件型号： SN74HC595
主题中讨论的其他器件： SN74AHC595、 SN74HCS595

您好、团队

客户正在使用 SN74HC595、但 tpd（从 SRCCLK 到 QH）时序约为 5.8ns、这与开关特性表中的典型值不匹配~、您能检查一下吗？

image.png

测试波形（50%上升至 50%下降）和测试点附在此处：

595 expandor.pdf 

测试 waveform.docx 

通道 1 为 SRCLK、通道 4 为 QH

 

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    嗨、 Raj

    这是生产模块问题、您能提供帮助吗？ 谢谢

    -托马斯

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    尊敬的  Thomas：

    5.8nS 的 Tpd 远小于这里的典型值、这是一个好东西。 想知道为什么这会导致停产问题。 您能解释一下客户的问题是什么吗？  

    Sanatan

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    他们需要确保这是正确的器件、因为下一级需要有准确的时序。   SN74AHC595 似乎具有正确的行为（（tpd 时序）、请检查：

    1) 测试波形是否符合预期

    2) 负载电容的测试要求为 50pF、具体如下所示测试方法：

      

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    PCN#20210315003.1 引入了一个全新的芯片。 保证的数据表限值尚未更改、但典型特性现在与 HCS 器件（例如 SN74HCS595）的特性类似。

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    Ladisch,

    感谢信息、因此典型特性由新芯片决定、对吧？ 我们是否计划更改数据表中的典型值或标记一些内容？

    -Tomas

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    我们计划在 PCN 中添加更多信息、以便显示电气特性之外的差异。

    您能告诉我这是如何停止生产的问题吗？ 我该如何在这里提供帮助？  

    此外、从电路设计的角度来看、我不会依赖于 TPD 的特定值。 如果未指定最小值、则假设它可以在 0 到指定的最大值之间变化。  

    此致、

    Sanatan

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    我们将替换 74HC595PW、其典型时序为 16ns、客户希望保持该时序以确保下一级采样时间足够  

    我们的芯片/裸片是否可以保持数据表中的典型时序？

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    随着改用 12 英寸晶圆、TI 几乎更改了所有逻辑器件。

    '595 设计为可在常见的级联电路中正常工作。 时序是否至关重要、例如非常长的 SRCLK 线路、有具体原因吗？

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    您好、Thomas、我将把本次讨论移至电子邮件。  

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    TI__Guru**** 2826855 points
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    您好、Clemens：  

    感谢您的帮助。 是的、我们确实将器件移至 300mm。 这是一项新技术、可提供更快的速度。 除非指定了最低要求、否则我们可以利用该值来改进我们的器件、在本例中使 Tpd 更低。