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[参考译文] SN74AHC1G32:行为变化 — SN74AHC1G32

Guru**** 2868470 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1638360/sn74ahc1g32-behaviour-change---sn74ahc1g32

器件型号: SN74AHC1G32

我们正在使用包含在 PCN 20240327004.1 中的 SN74AHC1G32DCKR、该器件鉴定了 RFAB 和其他组装地点。

我们观察到、在相同的测试和应用条件下、在 CDA 封装厂组装的器件在行为上似乎与来自其他合格封装厂的器件不同。 根据 PCN、预计不会对形式、时基故障、功能、质量或可靠性产生影响。

您能否澄清、预计 TI 在电气或参数值、测试限值或可靠性方面是否会存在与封装厂相关的差异、以及 TI 是否收到了针对 SN74AHC1G32DCKR 或此 PCN 第 6 组中其他器件的类似反馈?

提前感谢您

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    您好:

    您能描述一下您所看到的不同之处吗? 您是否注意到该器件违反了任何数据表规格?  

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    保证的数据表限值没有改变;您的电路可能会尝试超过这些限值。

    新器件可能对慢速输入边沿更敏感、并且典型驱动强度可能更大。 请显示输入信号和错误输出信号的示波器轨迹。