This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] SN54SC4T08-SEP:使用开路输出进行测试

Guru**** 2925550 points

Other Parts Discussed in Thread: SN54SC4T08-SEP

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1650395/sn54sc4t08-sep-use-of-open-outputs-for-test

器件型号: SN54SC4T08-SEP

我是一名 RHA 工程师、计划针对此器件的更高 LET 进行补充 SEL 测试。 我目前正在设计一个测试电路、并交叉参考可用的 SEL 测试报告“SN54SC4T08-SEP 单粒子闩锁 (SEL) 辐射报告“。 每个通道的输出显示为保持开路(悬空)。  

您能否深入介绍一下为什么选择此电容器而不是容性负载或阻性负载? 这是否确定为最坏情况电路设置?

sbok078.pdf 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Berkay:

    我认为选择这种方法没有具体的原因。 我认为可能的情况是、选择了无负载作为任何用于负载的元件、这些元件不符合测试条件的额定值。