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[参考译文] TXS0108E-Q1:询问 TXS0108E 的运行特性

Guru**** 2943400 points

Other Parts Discussed in Thread: TXS0108E, TXS0108E-Q1

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1655789/txs0108e-q1-inquiry-regarding-the-operational-characteristics-of-the-txs0108e

器件型号: TXS0108E-Q1
主题中讨论 的其他器件:TXS0108E

你好。

“我目前正在使用 TXS 系列电平转换器来实现 AP 和 MCU 之间的 I2C 通信。  
如我提供的波形所示、存在一种现象、即信号在下降沿期间保持在约 800mV。  
即使移除外部 2.2K 上拉电阻后、此行为仍然存在、但在我将 TXS OE 引脚拉至低电平时、此行为会消失。  
这可能是什么原因? 这种现象是否会影响 I2C 通信?继续使用该产品是否安全?

我还有一个关于 UART 通信的附加问题、我也在使用 TXS 系列器件。 当在 AP (UART TX) 和 A 端口之间插入一个 100 欧姆阻尼电阻器时、也会出现同样的现象、即保持在特定电压电平的信号。 将其替换为 0 欧姆电阻器可解决该问题。 我不能将阻尼电阻器与此器件配合使用吗?

请您确认这些问题。 谢谢。“

I2C_CLK_000.png

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    尊敬的 Daepo:

    8ns 下降时间在 I2C 300ns 下降时间窗口的限制范围内。 由于 TXS0108E 基于开关的架构、容性负载从输出端放电回输入侧可能会引起这种拐点行为。   您能否确认这是否导致了任何通信错误?  否则、可以在此应用中使用、因为此器件支持 I2C 操作。  

    该器件也可与串联电阻器一起使用、但端接值将取决于具体用例和电路板设置。 在您的情况下、0 欧姆值似乎更适合控制边沿速率。   

    此致、

    插孔

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    您好、Jack、

    否、通信本身没有问题。 我问这种“平坦“或“膝“现象是否可能导致任何问题。 感谢您的澄清。

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    “我还有一个问题。 根据数据表、在 VCCA = 1.8V 且 VCCB = 3.3V 的条件下、B 端口(在推挽模式下)的最大上升时间指定为 5.3ns。 但是、我测量进入 B 端口的 UART TX 信号时、上升时间约为 7.451ns。 这是否构成违反规范(规范输出)? tPLH 和 tPHL 值似乎在所需范围内。 我附上了相应的波形供您查看。 谢谢。“

    UART TX 上升时间

    B 至 A PLH(黄色 B 端口、蓝色 A 端口)

        

    B 到 A PHL(黄色 B 端口、蓝色 A 端口)



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    尊敬的 Daepyo:

    请注意、该器件是在 15pF 输出 Cload 的特定负载条件下进行测试的。 如果您测试的值与此设置不同、则预期值将不同:  

    此致、

    插孔

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    感谢您的解释。

    我的主要问题是在使用 TXS0108E-Q1 时、在系统中观察到的大约 2ns 的上升时间会导致任何功能或可靠性问题。

    如果数据表中指定的值代表在 TI 测试条件下测得的最大值、我的理解是额外的 2ns 上升时间不应引起任何功能或可靠性问题。 您能否证实从 TI 的角度来看、这一解释是否正确?

    谢谢你。

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    尊敬的 Daepyo:

    我之前的回答中所附的图像似乎是错误的。 我打算发送以下内容:  

    ]我的主要问题是在使用 TXS0108E-Q1 时、在我的系统中观察到的大约 2ns 的上升时间是否会导致任何功能或可靠性问题。

    您的应用中无需担心可靠性/功能问题。 如上所示、在 DUT 条件下、开关规格以最小值/最大值的形式提供、如果您的应用与图中不同、则时序性能的变化也可能会发生变化。

    此致、

    插孔