[参考译文] SN74AUP1G06：输出漏电流，SN74AUP1G06

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Other Parts Discussed in Thread: SN74AUP1G06, SN74AUP1G07

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https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/618157/sn74aup1g06-output-leakage-current-sn74aup1g06

部件号：SN74AUP1G06
主题中讨论的其它部件： SN74AUP1G07

您好，

我对SN74AUP1G06输出漏电流的特性数据感兴趣。

为了进一步说明，当输出处于高阻抗状态时，我有兴趣获取零件引脚4处泄漏的数据。

任何规格都将有所帮助，非常希望在温度范围内使用MIN-TYP-MAX类型的规格。

谢谢！

索南

6 年多前

0 admin 6 年多前

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SZZA036 表示它将被列为IOZ；我不确定此数据是否存在。

IOFF也适用于输出；它应类似于IOZ值。

0 admin 6 年多前

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你好，Sortnam，
由于此器件具有漏极开路输出(即没有PFET连接到输出)，因此输出引脚上的泄漏与电源电压无关(nFET上的V_DS仅由输出引脚上的施加电压控制)，这意味着在此情况下，I_OZ等于I_OFF (针对V_CC = 0进行测试)。

在100 % of Cases中则不是这样-一些漏极开路设备只会禁用PFET，从而允许从该侧泄漏。对于SN74AUP1G06和SN74AUP1G07，这绝对是正确的。您可以将I_OFF值用于I_OZ

0 admin 6 年多前

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谢谢你，Emrys。这很有帮助。

我有一个跟进问题：

对于这些设备，假设测量参数的典型值(例如I_oz) 代表在表征期间测试的所有设备上测得的值的平均值，这是否公平？

如果是，我想了解典型值(平均值)规范和温度范围内的最小值/最大值之间有多少标准差(sigma)。

假设以下情况是否合理：

max=typ+6*Sigma

我问的原因是：我在应用中使用此器件，其中此引脚处的MAX泄漏会导致系统级模拟参数超出规格，而典型值使其保持可接受。我正在尝试用数字(统计)量化这一现象的蔓延及其发生的可能性。

此致，

索南

0 admin 6 年多前

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你好，Sortnam，

典型值是室温下标称批次的平均值。

恐怕我无法发布我们准确的测试方法。我可以说，TI发布的每个器件都在数据表最小值/最大值内。超出这些值的任何内容都被视为收益率损失，不会出售。

根据我的经验，围绕最小值/最大值设计系统是确保多年平稳运行的唯一方法。

0 admin 6 年多前

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Emrys您好，

非常感谢你的帮助。

我在一家大型工业OEM公司工作，我将请求我们的TI本地客户管理部门，看看是否可以根据我们的现有协议向我们发布此协议。

此致，

索南

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[参考译文] SN74AUP1G06：输出漏电流，SN74AUP1G06