主题中讨论的其它部件：SN74LVC1G240， SN74LVC2G241， SN74LXC1T45
尊敬的TI支持团队：
我正努力解决一个非常奇怪的问题。 我想让3.3 V MCU在5V SDI-12总线上通信(参阅 https://sdi-12.org/) ，使用一个GPIO进行双向通信，使用一个GPIO进行方向控制。
我看到一个电路示例(www.daycounter.com/.../SDI-12-Interface.phtml) ，其中SN74LVC1G240用于此目的。 我在博客文章中测试了他们正在讨论的适配器设备，它实际上使用 的是SN74LVC1G240，它工作正常... 仅此电路需要两个GPIO进行通信，一个用于方向控制。
我只想将一个GPIO用于单线，双向SDI-12通信，将一个附加GPIO用于方向控制，即设置两个三态缓冲器(TX缓冲器和RX缓冲器)的备用z状态。 此外，我还拥有软件实现的SDI -12通信的反相逻辑，因此我决定使用同相SN74LVC1G125。
我还知道，SN74LVC1G125需要在输入引脚上为高电压提供0.7 * VCC，而对于5V的VCC，这将是3.5伏，因此高于3.3 V，但这 可以通过一种或另一种方式解决，实际上并不是目前我最棘手的问题...
目前我的问题是，在我的测试中，检测到的SN74LVC1G125 I无法正常工作。 或者更糟糕的是，有时他们会按预期工作一段时间，然后开始出现故障，甚至在Z状态下或在A为低电压时，也会发出一些噪声电压。 此外，当发生故障时，OE引脚上会出现大量电流，从而影响施加到该引脚的电压...
测试电路输出，此处仍未连接缓冲器：
1)来自MUC的OE信号，用于TX缓冲器(粉红色)，直接来自MUC GPIO的数据线，不带缓冲器(黄色)，来自MUC的反向OE信号，用于RX缓冲器(蓝绿色图，此电路中未连接RX缓冲器)
2)来自MUC的OE信号，用于TX缓冲器(粉红色)，来自MUC的数据线，通过TX缓冲器VCC 5V (黄色)，来自MUC的反向OE信号，用于RX缓冲器(蓝绿色图，此电路中未连接RX缓冲器)
-> OE引脚上的均匀电压会发出噪音，并且会严重漂移！
从电路上拆下SN74LVC1G125，一切都恢复正常...
后来我发现SN74LVC1G125的回流温度为最高，我认为所有SN74***缓冲液都是如此 指定260°C持续时间< 10秒，并且规格表中有ESD注意事项。 虽然我必须承认我在第一次尝试时没有考虑这些规格，我在适配器分支板上手动焊接了超过260°C的SOT23-5 IC，但我现在使用的是低温焊接，反射板和ESD保护镊子和手套， 小心不要触碰IC的针脚。 由于在板上焊接低于250°C的温度并无帮助，我认为板的温度斜坡可能太平，高温持续时间过长，仍然会损坏IC。 为了排除这种情况，我现在甚至使用Fields Metal作为一 种基于Indium的共晶合金，熔温度仅为62°C左右，不包括任何可能的温度损害… 还是同样的问题。 许多缓冲液从一开始就出现故障，其中一些缓冲液经过一段时间后，VCC电压为5 V
我试过的最好的一次试跑是使用两个SN74LVC1G125s，我焊接的比开始时要小心，但在板上仍有大约230°C的温度，并在此电路中对其进行测试：
在此电路中，我使用两个SN74LVC1G125，一个用于TX，另一个用于RX，它们连接到相同的GPIO进行通信，而OE输入连接到某些反向MOSFET电路，以使用一个单GPIO同时交替两个缓冲器的z状态... 我知道我也可以使用带3.3 V VCC的RX SN74LVC1G125进行降压转换，不需要分压器。 我这样设计电路的原因只是为了排除任何对RX缓冲器A的5 V有害影响，尽管根据规格表，这应该不是问题...... 现在我还找到了SN74LVC2G241，它实际上包括了我设计的电路的所有功能，我还会测试它...
此测试电路的结果，示波器图形和下面的注释，请参阅下面的...
我在SOT23适配器板上焊接了20多个SN74LVC1G125装置，这是我遇到的奇怪故障。
在某些情况下，尽管A为低电压，OE为高电压，但我立即得到Y上的错误和漂移电压，并且在某些情况下，在Y被驱动并发出噪音之前，它会工作一段时间...
现在，由于我使用的是低温焊料，甚至是熔化温度低于SN74LVC1G125规定的正常工作温度最高值的共晶合金 ，而且还使用ESD安全镊子和手套，所以我仍然很困惑什么仍然是问题。
我做错了什么？ 此外，我还从一家声誉良好的知名大型德国零件经销商处订购了SN74LVC1G125，我实际上不会期望假芯片会出现任何问题或处理不当。 SN74LVC1G125采用原始卷带包装，但据我所见，它采用普通塑料拉链袋包装。 没有ESD保护袋...但这是否真的是IC处理如此精细...？
我们非常感谢您提供任何帮助和建议...
最好的Michael
以上电路的测试数据：
1)仅在尚未连接RX缓冲区的情况下测试TX缓冲区：
默认情况下，TX缓冲区上的OE级别较高(粉色图)，RX (此处尚未连接)的OE级别较低(蓝色图)-> 即侦听状态
对于写入SDI-12总线，两个缓冲器OE引脚的状态交替，MUC写入(黄色图形)通过TX缓冲器写入SDI-12总线(绿绿色图形)。 写完后，它返回到"倾听"。
2)现在测试与缓冲器和连接到总线的SDI -12传感器的SDI -12通信。 MUX将缓冲区状态切换为写入状态，其中TX缓冲区的OE过低(粉红色)，RX的OE过高(蓝色)，数据GPIO通过TX缓冲区将具有3.3V (黄色图形)的请求写入具有5 V (蓝绿色图形)的SDI-12总线。 写入请求后，MUC将OE状态再次重置为侦听(粉红色为高，蓝色为低)。 连接的SDI -12传感器在SDI -12总线上的5 V电平响应(绿绿色绿色绿色)，RX缓冲器在SDI -12总线上接收信号，并通过分压器在数据GPIO上的3.3 电平上接收传感器的响应(黄色)。 很棒，到目前为止还不错！
3)在整个电路通电一段时间后，它仍然工作。 这里没有示波器的屏幕截图，但在 整个电路通电并使MUC电路处于"收听"状态约20分钟后，通信仍以相同的方式工作。
4)但是没有做任何更改...再次，IC开始出现故障... 首先，MOSFET开关上的电平会改变电压电平并发出噪音
5)然后，缓冲区输出也开始在其不应达到的位置提供输出
6)这是缓冲区停止工作的地方...
