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器件型号：SN74LVC1G123 尊敬的 TI 团队：
感谢 TI 团队帮助确认、通过使用 Cext = 30pF 和电位器、可使用1k Ω 至100k Ω 的 Rext 生成 0.1us、0.2us、0.5us、1us、5us 和10us 的脉冲持续时间。
其他哪些因素可能影响脉冲持续时间的精度？
非常感谢您的参与。
尊敬的 TI 团队：
感谢 TI 团队帮助确认、通过使用 Cext = 30pF 和电位器、可使用1k Ω 至100k Ω 的 Rext 生成 0.1us、0.2us、0.5us、1us、5us 和10us 的脉冲持续时间。
其他哪些因素可能影响脉冲持续时间的精度？
非常感谢您的参与。
如果器件的输出脉冲宽度发生变化、有五个因素会影响它们的宽度：
(1)电源电压
(2)外部时序电容、C_ext
(3)外部时序电阻器 R_ext
(4)温度
(5) 制造流程
1到4取决于您的系统、而5不取决于您的系统。
温度可能会导致器件的变化量高达2%、但通常情况下、电容器的温度系数最大、变化量最大(有些可能导致变化量大于100%)。
应用报告《使用 SN74LVC1G123单稳多谐振荡器进行设计(修订版 A)》包含此图、该图的配置与您正在考虑的配置类似：
电源电压变化 会导致 K 变化、而在3.3V 时、使用30pF 计时电容器时、K 相对较大、并且会显著变化。 我没有为该电容器/电源组合提供数据。 我建议在构建完整系统之前、将电源变化作为原型测试的一部分进行考虑。
制造过程可能会导致一些变化、具体取决于许多变量。 遗憾的是、我们的数据无法隔离这一点、因此我必须从更整体的角度来讨论这一点。
查看我们的 char 数据、在电源(10%)、温度(-40至+125C)和工艺(弱、额定、强)范围内、最坏的情况是输出脉冲的变化为15%。
脉冲的输出连接到 NPN 以实现高达12V 的电平位移。 我是否知道有任何有关输出脉冲持续时间的问题？
