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器件型号：SN74LVC2G08-Q1 您好，
我们在项目应用中使用的是 SN74LVC2G08QDCURQ1。
我尝试在25度时测量器件的输入泄漏电流、该电流大约为8.6uA、而在-40度时为300uA。
输入泄漏电流和温度之间是否存在任何关系？
这种巨大偏差背后的原因是什么？
您好，
我们在项目应用中使用的是 SN74LVC2G08QDCURQ1。
我尝试在25度时测量器件的输入泄漏电流、该电流大约为8.6uA、而在-40度时为300uA。
输入泄漏电流和温度之间是否存在任何关系？
这种巨大偏差背后的原因是什么？
电流可能会通过输入晶体管的栅极隔离和 ESD 保护二极管泄漏。 在实践中，只有后者才重要，泄漏确实随温度的升高而增加。 不同器件的此图显示了典型行为：
µA 最大值仅为5 μ V。 您是如何测量的？
这是使用的测试电路。
在测量一个输入引脚的泄漏电流时、另一个输入保持开路。
