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[参考译文] SN74LVT245B:八路缓冲器、当一个或多个通道锁存输出为高电平或低电平时会出现间歇性/潜在故障。

Guru**** 1101210 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/836798/sn74lvt245b-octal-buffer-seeing-intermittent-latent-failures-where-one-or-more-channels-are-latching-output-either-high-or-low

器件型号:SN74LVT245B

我们一直在使用 SN74LVT245BPW 传输200kHz 至35MHz 的开关信号。 输入直接由 Cyclone V FPGA 以3.3V 电压驱动、输出通过125Ω Ω 的静脉电阻器终端驱动隔离器 IC 的输入。 SN74LVT245BPW 和隔离器 IC 都安装在不同的 PCBA 上。 制造和组装后、每个具有 SN74LVT245BPW 组件的 PCBA 都使用固定装置进行单独测试、并且所有输出信号都证明是有效的; 但是、在系统中连接两个 PCBA 的现场时间达到可变量后、输出会锁存到高电平或低电平状态。 已执行以下测试并具有以下结果:

1.在 系统外部使用 SN74LVT245BPW 组件测试单独的 PCBA - SN74LVT245BPW 组件的输出保持锁存

2.从 PCBA 上拆下 SN74LVT245BPW 组件并使用工作台电源+函数发生器对其进行测试-输出再次正常、输入信号在输出端传输。

3.我们已用相同的新部件更换了以前损坏的缓冲器,并对系统进行了5000次以上的功率循环,并且没有看到新的缓冲器中断。

有关设计原理图概述、请参阅随附的 PDF。 在原理图中、U4是发生故障的缓冲器。 我们想确定故障的根本原因和/或早期故障检测方法。

e2e.ti.com/.../Buffer_5F00_Schematic_5F00_Overview.pdf

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    在使用端接电缆的整个系统中、当 I/O (尤其是输出)进行切换时、您能否显示其示波器波形?

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    您好!

    要添加到示波器屏幕截图、您是否可以在 35MHz 下运行期间测量流入器件电源引脚的电流?

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    下面是35MHz 进入不良缓冲器通道(Ch3 Blue)和输出引脚(Ch4 Pink)的屏幕截图。

    我们还尝试扫描输入信号的频率、并看到在较低频率下、一些不良缓冲器会输出、我们还会看到从输入切换到输出切换的明显延迟。 该延迟看起来因 IC 的不同而有所不同。 当我们用新的 IC 替换时、我们看到数据表中指定的延迟约为3.5ns。 我们还观察到、如果在不良 IC 运行时对其施加热量、则延迟将会降低。

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    遗憾的是、我们无法测量通过器件电源引脚的电流、而不会对 PCBA 上的组件进行侵入性或潜在破坏性返工。 器件电源电流可以指示的组件中是否存在已知的特定问题?  

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    绝对最大额定值禁止在输出端超出电源轨0.5V 以上。

    如果该可怕的振铃不是测量伪迹、并且如果它也是在使用有效的缓冲器时发生的、那么它将解释损坏。

    尝试添加源端接。

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    您好!

    流经输出的电流过大可能会造成损坏、因此流经 VCC 或接地的电流总过大。 在重负载和35MHz 频率下、这是可能的。 正如 Clemens 所说的、过冲也可能是导致此问题的原因。

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    环是测量的伪影。 我们在尝试测量输入和输出之间的延迟时使用了更长的接地线夹。 当您在带有接地弹簧夹的全新 IC 上独立测量它们时、您会得到以下结果。

    35MHz 信号进入缓冲器

    缓冲器输出35MHz 信号

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    我们能够测量进入 VCC 引脚的电流、同时在启动时探测输出引脚、并看到坏引脚将转换为~1.7V、保持一个位、然后开始振荡、最后锁存。 在同一 IC 的某个正常引脚上进行相同测量时、我们不会看到~1.7V 转换或振荡、引脚将跟随输入。

    下面是 BAD 引脚(Ch1)的输出信号的快照、电流流经 VCC (Ch3)

    下面是正常引脚(Ch2)的输出信号和流经 VCC (Ch3)的电流

    我们还在 IC 运行时测量了静态电流。 下面是通过具有良好 IC (Ch3)的 VCC 的电流

    下面是使用不良 IC (Ch3)流经 VCC 的电流、有350kHz 和35MHz 信号流入缓冲器、我们认为这是电流振荡中的信号。

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    您好!

    我建议从您的分销商或专业销售支持处开始创建 FA。 这将使我们能够获得一些损坏的器件并运行我们自己的测试、以找出故障的根本原因。

    目前、没有任何突出的因素会导致此锁存问题。

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    您好!Dylan、

    我是负责这项调查的工程师之一。 一些有缺陷的组件已发送回 RAM#60629854。 如果能迅速提供帮助,将不胜感激。

    此致、

    Michael

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    您好、Michael、

    FA 将使我们能够更深入地了解这一问题。 当我们收到该信息时、应通知我提供支持、并提供给我的详细信息。

    FA 将能够识别我无法看到的东西、如 ESD 损坏。 我在原理图中看不到任何额外的 ESD 保护、而这是两个具有连接器的电路板、这让我相信物理交互是可能的。 这也许也不是原因,但 FA 将有助于得出结论。 不幸的是,我们必须等到这一点才能继续探索。