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[参考译文] SN74LVC8T245:IIN、输入泄漏电流

Guru**** 2837190 points

Other Parts Discussed in Thread: SN74LVC8T245

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/810868/sn74lvc8t245-iin-input-leakage-current

器件型号:SN74LVC8T245

您好!

我想问一下为什么 在 DIR 引脚上测试输入泄漏电流(IIN)参数。 如器件规格所示、DIR 和 OE 均为纯输入引脚。 因此、 应在 OE 引脚上执行 IIN 测试。

我还遇到了 Nexperia 74LVC8T245-Q10、 其数据表规定 、DIR 和 OE 引脚经过 IIN 参数测试。  

同样、我想问一下在 SN74LVC8t245上进行 IIN 测试的基准测试方法验证:

  • VDDmax (5.5V) 应用于 VCCA 和 VCCB
  • 除被测引脚(Put)外、所有引脚都保持开路
  • 强制 VCCA 或 GND 接通 Put、并测量电流
  • 如果测量的电流超出限值、则会失败

任何投入都将不胜感激。 谢谢你。

此致、  

安倍

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Abe:

    OE 和 DIR 引脚是 CMOS 输入引脚、漏电应同时应用于这两个引脚。 我将记下此值以进行更正。

    您测量泄漏电流的方法是正确的。