数据表仅列出了 Vcc = 2V、4.5V、5V、6V 时的传播延迟时间。 传播延迟在2V 时显著降低。 您能否在 Vcc=3.3V 时提供典型(和最大(如果也可用)传播延迟? CL=15pF。 主要关注 A=B 的情况、在5V 时、这种情况看起来快几 ns。 谢谢你。
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数据表仅列出了 Vcc = 2V、4.5V、5V、6V 时的传播延迟时间。 传播延迟在2V 时显著降低。 您能否在 Vcc=3.3V 时提供典型(和最大(如果也可用)传播延迟? CL=15pF。 主要关注 A=B 的情况、在5V 时、这种情况看起来快几 ns。 谢谢你。
尊敬的 Emrys:
感谢您的回答! 是的、如果您可以测量3.3V 的典型传播延迟、这将非常有用。 我主要对"匹配"案例感兴趣、但如果不平等更易于衡量、那么我可以估计匹配将比不平等要快一点。
我不认为传播延迟可以线性插值、因为3个数据点是非线性的:30ns@6V 和35ns@4.5V、但175ns@2V。 在这种非线性水平下、3个点不足以估算非线性。
我想将 XOR 用于 OR (XNOR 用于 NAND 的速度要慢得多)。 但是、如果 HC85速度足够快、它可以提供更理想的单芯片解决方案。
再次感谢你的帮助。 新年快乐!
磁轭
Tanaka-San,您好!
我在我们的工作台上用大约15pF 的负载(8pF 探针+试验电路板寄生效应+输入电容)测试了该器件、并将结果与您分享。
我看到的平均延迟为30.53ns,最大值为32.0ns,采用单输入开关。
当我切换除一个输入之外的所有输入时、我看到~2.2ns 的增加、最大值为34.2ns。
我还完成了数据表值的线性插值、以显示 TI 将在器件上保证的值。
请注意、3.3V、25C 时的基准数据仅是在器件的一小个子集上获得的典型值、TI 不保证这一点。 蓝色线是数据表在25°C 时保证的最大值、而其他线表示整个温度范围内的保证最大值。
正确的是、这种形式的线性插值并不是完全准确的-有一条更平滑的线可以更准确地适应这种情况、但这是我们认可的保证数据表给定数字之间值的方法。 这使得估算非常安全。