大家好、,
我们发现一些 TI SN74HCT273需要 DIN 保持时间(TH)超过600ns、如果在 clk 上升沿之后 DIN 电平在600ns 内切换、我们可以看到开关 DIN 状态被锁存。
数据表仅定义了最小值0ns。 您能否检查 DIN 保持时间的分布? 在 clk 上升沿之后、我们需要多长时间保持 Din 信号以确保它可以被锁存?
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
大家好、,
我们发现一些 TI SN74HCT273需要 DIN 保持时间(TH)超过600ns、如果在 clk 上升沿之后 DIN 电平在600ns 内切换、我们可以看到开关 DIN 状态被锁存。
数据表仅定义了最小值0ns。 您能否检查 DIN 保持时间的分布? 在 clk 上升沿之后、我们需要多长时间保持 Din 信号以确保它可以被锁存?
您好! Dylan、
这里是我们的原理图、有2个 SN74HCT273、每个 SN74HCT273包含8个 D 触发器、总共16个 D 触发器以串行方式连接。 第9个 D-flip 触发器是第2个 SN74HCT273 (U2)的第1个 D-flip 触发器。
在清零信号后、我们在第一个 D-flop (U1 1D)的 Din 上放置一个高电平、预计高电平将在每个时钟信号上升后传输到下一级。 第16个 D-flop 输出(U2 8Q)将在第16个时钟上升沿之后获得高电平信号。 大多数电路都按我们的预期工作。 但某些电路板无法正常工作、第16个 F 触发器输出将在15个时钟上升沿之后保持高电平。 我们发现它是在第8个时钟上升沿捕获的 D-flop 9高电平。
此图来自功能板、CH1是时钟信号、CH2是第9个 D 触发器的 Din、CH3是第9个 D 触发器的输出。 第8个时钟上升沿使第8个 D 触发器输出变为高电平、第9个时钟上升沿使第9个 D 触发器输出变为高电平。 这是预期的。
下一张图表来自缺陷板。 CH1是 clocl 信号、CH2是第9个 D 触发器的 Din、CH3仍然是第9个 D 触发器的输出。 我们发现第8个时钟上升沿使第8个 D-flip 触发器和第9个 D-flip 触发器输出都变为高电平。
我们放大时域、在功能板上、我们得到的图表为"吹气"。 CH2是时钟信号、CH1输入第9个 D-flip 触发器、时钟的上升沿是复位后的第8个上升沿。 在时钟上升沿之后、第8个 D 触发器输出变为高电平700ns。
在缺陷板上、我们得到了该图表。 在第8个时钟上升沿之后、第8个 D 触发器输出变为高电平610ns。 然后、第8个时钟信号上升沿上的第9个 D-flip 触发器捕获高电平。
在第8个时钟上升沿、第9个触发器输入信号的保持时间似乎不够、因此在第8个时钟上升沿由第9个触发器捕获高电平、 预计它将在第8个时钟上升沿捕捉一个低电平信号。
我们需要了解芯片需要多少保持时间来确保没有意外触发。
如果您仍有疑问、请在回答问题前告知我!
谢谢。
您好!Dylan、
1.我假设 U2触发器输出连接到输入、如 U1正确吗?
是的、每个 U2触发器输出都连接到下一个触发器输入、如 U2
2.看起来您的电路板可以正常工作、有些电路板不能正常工作。 您是否已将不工作的设备与工作正常的设备之一交换过? 这可能是有益的。 如果新设备解决了问题,则可能是设备出现问题。
如果我们交换2个器件、电路将工作、但我们无法预选器件并将其安装在不同的位置。 这 是一个批量故障案例、而不是偶然的案例。 当 U1和 U2来自不同的数据编码时、这种情况发生得更严重;如果我们将一个特定的数据编码分量放置在 U1位置、将另一个特定的数据编码放置在 U2位置、则电路板将无法工作。 再次交换它们、电路板将正常工作。 如果 U1/U2到目前为止来自相同的数据代码、则未看到此故障
我们认为这一问题是由不同的批次组件有不同的“TH”请求引起的,数据表上的“TH”的特定值仅标有最小值,我们不知道“TH”在不同批次之间的分布情况。 我们能不能知道“TH”的典型值和最大值是多少?