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[参考译文] TXB0104:OE 斜升电压、上升时间(再次)

Guru**** 2551110 points
Other Parts Discussed in Thread: TXB0104

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/678861/txb0104-oe-ramp-up-voltage-rise-time-again

器件型号:TXB0104

在其他论坛中、我已经了解到 RC 到 VCC、它会缓慢升高 OE、从而在 打开 VCC 时产生延迟。

如果我们要 使用 FET ( 在启动时切换至 GND) 和 OE 上的上拉电 阻器(在 FET 处于“开路”状态时打开) , 我将有一个上升时间(PU 和 FET 容量以及 TXB0104 => RC 的内部容量)  

在旧论坛中、建议 CMOS 的上升时间为20ns/V..100ns/V (端口 A 40ns/V)。 如果我使用10k 的上拉电阻和100pF 的 FET (CDSS)、 我的 RC 上升时间大约为2us。

在数据表中、没有为 OE 定义上升时间(仅适用于输入端口 A 或 B)。

上升时间为2us 会是正常的 ? (OE 仅在上电时使用)  

(我知道最好的解决方案是使用施密特触发器来解决它、但目前我无法更改它)

如果该 OE 仅在加电时使用、那么 TXB0104中的内部开关损耗  仅在加电时使用、那么可接受的上升时间是如何的。  ?

风险在哪里?

谢谢。

曼弗雷德

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    大家好、Manfred、

    数据表中的输入转换上升或下降速率也与 OE 引脚有关。 由于器件可能出现故障、上升时间为2us、因此会导致大量功率损耗。 如果器件不经常通电或关断、您可能会离开它、但由于它不在规格范围内运行、我无法保证正常运行。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好,迪伦

    感谢您的回答。

    VCCA 为3.3V、因此 Vin_low_max (1.15V)和 Vin_high_min (2.15V)之间的逻辑输入状态未定义、约为470ns。

    如果设备每2小时打开/关闭一次,您是否认为损坏的可能性很高? (因此 、我认为冷却时间相对于约470ns 的加热时间而言非常高)

    或者,除了加热导致的加热和损坏的风险之外,还有其他问题吗 ?

    OE 输入的内部电路如何?

    曼弗雷德

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    大家好、Manfred、

    我真的不能给您造成损坏的可能性、所有器件都不同。 以下是您将遇到的主要问题:

    在这种缓慢的转换时间内、您的输入将更长地处于阈值区域、从而导致 NMOS 和 PMOS 都导通、VCC 对地短路。 该器件将无法处理通过它的大量电流。 我们有一份很好的应用手册、其中对此进行了更详细的解释、我将在下面链接:

    www.ti.com/.../scba004d.pdf

     

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    你好,迪伦

    感谢您提供详细信息。

    曼弗雷德