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[参考译文] TXB0302：测试模式、仅弱上拉驱动 TXB0302两侧

admin
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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1364671/txb0302-test-mode-only-weak-pullups-driving-both-sides-of-txb0302

器件型号：TXB0302

电路具有测试模式、TXB0302的两侧均处于 tri 状态。  3.3V 侧上拉为20K+、2.5V 侧上拉为25K +下拉。 第2个 数据路径有40K 和20K 上拉电阻。   我认为 TB0302的输出状态是不确定的、因为所有情况都不满足灌电流/拉电流要求、迫使器件进入已知状态、 此模式下是可以的。  这些用例似乎会导致 IC 内的功率耗散增加。  在假设处于办公环境温度的情况下、该连续电流/耗散是否足以导致器件损坏(输出驱动器)？