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https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1381256/sn74lv123a-q1-sn74lv123a-q1-tw-error-versus-capacitor-temperature-effect
工具与软件：
您好、专家！
我找到了两个有关 tw 变化与温度的很好的回复。 在表中、TW 标记为0.9~1.1ms、我们可以从列表15中看到曲线。
我的问题是、此测试曲线结果是否 被视为电容器 温度影响？ 换而言之、测试过程中是在每个温度下更换50pF 电容器、还是使用相同的电容器进行测试？
列表中标记的误差是否考虑了电容器温度的影响？ 如果将电容器的误差考虑在内、您能否分享使用的电容器模型？
和
随函附上两份供参考的答复
https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/757528/sn74lv123a-the-guide-line-for-how-to-choose-the-parameter-for-the-tw？tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=SN74LV123A%2520tw#
https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/579570/sn74lv123a-tw－output-pulse-duration－at－ta－－30c--0c--25c?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=SN74LV123A-Q1%2520tw#
你好？
尊敬的 Josh：
对于类似这些测试、该器件与所有其他元件完全隔离。 器件的温度会变化、但电容器温度不会改变。
此致！
Malcolm
