This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] SN74LV123A-Q1:SN74LV123A-Q1三级温度下的误差和失调电压

Guru**** 1753810 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74LV123A-Q1, SN74LVC1G123
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1393524/sn74lv123a-q1-sn74lv123a-q1-error-and-offset-at-triple-temperature

器件型号:SN74LV123A-Q1
主题中讨论的其他器件: SN74LVC1G123

工具与软件:

大家好、团队成员:  

我搜索了相关答案、但似乎不够准确、无法解决这些问题。 请在下面帮助回答这些问题:

[Q1] SN74LV123A-Q1中 tw 参数的三温度精度 为10%。 是否考虑过 Cext 电容器的三个温度误差和精度?

[Q2] 芯片端的哪些因素会导致芯片的 tw 误差这么大?

[Q3]在理想条件下、器件在三个温度(仅考虑5V 的 VCC 电源)下的 tw 误差范围是多少?

[Q4] 如果150kΩ、C=30nF、这种应用条件是否存在风险? (无法使电阻器如此之大。 选择电容器时 COG 精度为2%、最大电容只能为10nF)

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/579570/sn74lv123a-tw-output-pulse-duration-at-ta--30c--0c--25c?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=SN74LV123A-Q1%2520tw

谢谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Josh、您好!

    1. 否 完成温度测试后、器件与所有外部元件隔离、因此 Cext 温度在整个测试过程中保持不变。
    2. 只需处理内部电容的变化和变化、并且仅考虑设计的性质。 这些 RC 常量的功能不是精密仪器设计的。
    3. 请参阅数据表中的图表:  
    4. 此 RC 值没有错误。

    如果温度变化是个大问题、请改为考虑 SN74LVC1G123。 该器件具有更强大的温度性能、在总温度范围内变化约为1%:

     

    使用 SN74LVC1G123单稳多谐振荡器进行设计(修订版 A)

    此致!

    Malcolm

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Malcolm:

    谢谢你。 我可以知道 SN74LVC1G123的汽车时间表吗

    BR、

    Josh

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Josh:

    我们目前正在改进我们的 MMV 产品组合。 明年年末、您可以看到1G123系列的汽车版本。

    此致!

    Malcolm